該儀器的應(yīng)用領(lǐng)域覆蓋了薄膜/涂層、光學(xué),工業(yè)軋鋼和鋁、紙、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介質(zhì)和半導(dǎo)體等幾乎所有的材料領(lǐng)域。
美國(guó)AEP Technology公司主要從事半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備, MEMS檢測(cè)設(shè)備, 光學(xué)檢測(cè)設(shè)備的生產(chǎn)制造,是表面測(cè)量解決方案行業(yè)的供應(yīng)者,專(zhuān)門(mén)致力于材料表面形貌測(cè)量與檢測(cè)。
NANOMAP 500LS輪廓儀/三維形貌儀技術(shù)特點(diǎn)
- 常規(guī)的接觸式輪廓儀和掃描探針顯微鏡技術(shù)的*結(jié)合。
- 雙模式操作(針尖掃描和樣品臺(tái)掃描),即使在長(zhǎng)程測(cè)量時(shí)也可以得到*化的小區(qū)域三維測(cè)圖。
- 針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描模式,三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm。樣品臺(tái)掃描使用高級(jí)別光學(xué)參考平臺(tái)能使長(zhǎng)程掃描范圍到50mm。
- 在掃描過(guò)程中使用彩色光學(xué)照相機(jī)可對(duì)樣品直接觀察。
- 針尖掃描采用雙光學(xué)傳感器,同時(shí)擁有寬闊測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍(zui大至500μm)及亞納米級(jí)垂直分辨率?。▃ui?。?1nm )
- 軟件設(shè)置恒定微力接觸。
- 簡(jiǎn)單的2步關(guān)鍵操作,友好的軟件操作界面。
應(yīng)用
- 三維表面輪廓測(cè)量和粗糙度測(cè)量,即適用于精密拋光的光學(xué)表面也可適用于質(zhì)地粗糙的機(jī)加工零件。
- 薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測(cè)量。
- 劃痕形貌,磨損深度、寬度和體積定量測(cè)量。
- 空間分析和表面紋理表征。
- 平面度和曲率測(cè)量。
- 二維薄膜應(yīng)力測(cè)量。
- 微電子表面分析和MEMS表征。
- 表面質(zhì)量和缺陷檢測(cè)。