廠家電阻率測試儀探頭庫號：M406300廠家電阻率測試儀探頭庫號：M406300KDT-9 探間距1.59mm，壓力4-10N；
以上兩種規(guī)格探頭用于測量截面面積均勻，截面形狀為方形、矩形或圓形，樣品的長度與截面大尺寸之比不應小于3：1，循環(huán)實驗測試樣品的大直徑為3.75cm，電阻率在0.0009-3000之間的單晶棒電阻率。
KDT-10 探間距10mm，壓力6-10N；
此規(guī)格探頭用于測量鍺錠的電阻率。KDT-9 探間距1.59mm，壓力4-10N；
以上兩種規(guī)格探頭用于測量截面面積均勻，截面形狀為方形、矩形或圓形，樣品的長度與截面大尺寸之比不應小于3：1，循環(huán)實驗測試樣品的大直徑為3.75cm，電阻率在0.0009-3000之間的單晶棒電阻率。
KDT-10 探間距10mm，壓力6-10N；
此規(guī)格探頭用于測量鍺錠的電阻率。KDT-9 探間距1.59mm，壓力4-10N；
以上兩種規(guī)格探頭用于測量截面面積均勻，截面形狀為方形、矩形或圓形，樣品的長度與截面大尺寸之比不應小于3：1，循環(huán)實驗測試樣品的大直徑為3.75cm，電阻率在0.0009-3000之間的單晶棒電阻率。
KDT-10 探間距10mm，壓力6-10N；
此規(guī)格探頭用于測量鍺錠的電阻率。
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