符合標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T18318.1-2009《紡織品 織物彎曲長(zhǎng)度的測(cè)定》，ZB W04003－87《織物硬挺度試驗(yàn)方法 斜面懸臂法》
主要用途：
織物硬挺度儀/織物硬挺度測(cè)試儀用于檢測(cè)棉、毛、絲、麻、化纖等各類機(jī)織物/針織物、一般性非織造織物、涂層織物、紙張、皮革、薄膜等材料的硬挺度和剛?cè)嵝浴?br />主要特點(diǎn)：
1、以紅外光束組成＂隱形＂檢測(cè)斜面，取代了傳統(tǒng)的有形斜面,實(shí)現(xiàn)無(wú)接觸檢測(cè),克服了由于試樣扭轉(zhuǎn)被斜面托起而影響測(cè)量精度的問(wèn)題。同時(shí)使測(cè)量?jī)A角可調(diào)成為可能。
2、自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)克服了目測(cè)所存在的缺點(diǎn)，增強(qiáng)了抗干擾性，試樣壓板自動(dòng)起落裝置，保證了壓板和試樣定位的精確性和*性，提高了工作效率。
主要參數(shù)：
1.儀器的測(cè)量角度：41°，30°，43°，45°可調(diào)
2.伸出長(zhǎng)度量程：0.5cm-20cm(特殊要求可在定貨時(shí)提出)
3.數(shù)值顯示分辨率：0.01cm
4.測(cè)量精度：±1%
5.試樣規(guī)格：2.5cm×20cm
6.工作平臺(tái)規(guī)格：5cm×20cm
7.試樣壓板規(guī)格：2.5cm×20cm
8.試樣壓板推速：0.3～0.5cm/ｓ(特殊要求可在定貨時(shí)提出)
9.額定功率：45W
服務(wù)保障：
1.服務(wù)宗旨：快速、果斷、準(zhǔn)確、周到、*；
2.服務(wù)目標(biāo)：服務(wù)質(zhì)量贏得用戶滿意；
3.服務(wù)效率：保修期內(nèi)或保修期外如設(shè)備出現(xiàn)故障，供方在接到通知后，維修人員在24小時(shí)內(nèi)予以解決方案。
上海泛標(biāo)紡織品檢測(cè)技術(shù)有限公司是隸屬于標(biāo)準(zhǔn)集團(tuán)（香港）有限公司，是標(biāo)注集團(tuán)在上海設(shè)立的分公司機(jī)構(gòu)，標(biāo)準(zhǔn)集團(tuán)（香港）有限公司成立于2003年，是一家經(jīng)營(yíng)實(shí)驗(yàn)室材料測(cè)試儀器的設(shè)備供應(yīng)商，公司總部在中國(guó)香港，在上海設(shè)有分公司，在長(zhǎng)沙、武漢、濟(jì)南、沈陽(yáng)、成都、杭州等地設(shè)有辦事處及售后維修中心。其中，上海泛標(biāo)紡織品檢測(cè)技術(shù)有限公司屬于標(biāo)準(zhǔn)集團(tuán)上海分公司旗下的主要公司之一。
2014年，標(biāo)準(zhǔn)集團(tuán)和多家歐美儀器設(shè)備制造商建立了*戰(zhàn)略合作。主要為國(guó)內(nèi)科研單位、企業(yè)、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)提供高品質(zhì)測(cè)試儀器設(shè)備，為材料測(cè)試相關(guān)的實(shí)驗(yàn)室提供設(shè)備以及整體解決方案（從實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)、儀器配置，到標(biāo)準(zhǔn)培訓(xùn)和售后服務(wù)），標(biāo)準(zhǔn)集團(tuán)為確保產(chǎn)品質(zhì)量可靠性、在每件產(chǎn)品出廠前經(jīng)過(guò)嚴(yán)格測(cè)試并配有國(guó)家機(jī)構(gòu)校準(zhǔn)證書，我們制定的材料測(cè)試行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)并被行業(yè)廣泛認(rèn)可。
標(biāo)準(zhǔn)集團(tuán)產(chǎn)品種類達(dá)600多種，涵括測(cè)試儀器、實(shí)驗(yàn)消耗品，及專業(yè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試方法手冊(cè)。主要經(jīng)營(yíng)的產(chǎn)品包括：顏色及色彩評(píng)價(jià)、顯微及法政檢驗(yàn)、3d人體掃描及假人模擬、床墊測(cè)試儀器、地毯測(cè)試儀器、玩具測(cè)試儀、濕度測(cè)量&控制系統(tǒng)、土壤溫濕度計(jì)附件、紡織及服裝、無(wú)紡布及土工布測(cè)試儀、透氣性測(cè)試儀、單向耐磨儀、皮革及鞋材測(cè)試儀、過(guò)濾材料測(cè)試儀、交通工具類測(cè)試儀、 耐候及老化測(cè)試儀、高加速老化測(cè)試系統(tǒng)、烘箱環(huán)境設(shè)備、輕工及包裝材料測(cè)試儀、電子電器測(cè)試儀、光化光譜及其它測(cè)試儀。
