ITC57300動態(tài)測試儀替代品易恩IGBT動態(tài)參數(shù)測試
EN-2020A半導體器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
| 系統(tǒng)概述 |
| 基礎規(guī)格 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| IGBT是廣泛應用于現(xiàn)代中、大功率變換器中的主流半導體開關(guān)器件,其開關(guān)特性決定裝置的開關(guān)損耗、功率密度、器件應力以及電磁兼容性,直接影響變換器的性能。因此準確測量功率開關(guān)元件的開關(guān)性能具有極其重要的實際意義。 EN-2020A半導體器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),該系統(tǒng)是針對IGBT器件的開關(guān)性特性及IGBT內(nèi)部續(xù)流二極管的反向恢復特性而專門設計的一套全自動測試系統(tǒng),適用于電流不超過1500A和集電極電壓不超過3500V的IGBT器件開關(guān)時間測試以及正向電流不超過2000A的二極管反向恢復特性的測試。 參數(shù)/條件
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| 規(guī) 格:1800×800×800(mm) 質(zhì) 量:155Kg 環(huán)境溫度:15~40℃ 相對濕度:小于80% 大氣壓力:86Kpa~ 106Kpa 電網(wǎng)電壓:AC220V±10%無嚴重諧波 電網(wǎng)頻率:50Hz±1Hz |