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產(chǎn)品|公司|采購|招標(biāo)

廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司

磁體探針臺(tái) 清洗/消毒設(shè)備

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱韋氏納米系統(tǒng)(深圳)有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號(hào)MPS-C-3X0
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質(zhì)代理商
  • 更新時(shí)間2023/7/29 9:51:41
  • 訪問次數(shù)1123
產(chǎn)品標(biāo)簽:

磁針探針臺(tái)探針臺(tái)

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First-Nano System GmbH 

  • 2003年          創(chuàng)立于德國德累斯頓工業(yè)大學(xué)(Dresden University of Technology)

  • 2008年          香港成立德國韋氏納米系統(tǒng)(香港)有限公司   

  • 2015年          上海成立德國韋氏納米系統(tǒng)(香港)有限公司中國代表處,負(fù)責(zé)中國區(qū)業(yè)務(wù)

  • 2018年          深圳正式成立韋氏納米系統(tǒng)(深圳)有限公司,更好的為中國南方區(qū)市場(chǎng)

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產(chǎn)品范圍:

薄膜沉積/Thin Film Deposition 
E-Beam and Thermal Evaporation, PECVD, PLD, DLC, DC & RF Sputtering, Ion Beam Sputtering
刻蝕/Etching
RIE, DRIE, ICP, Ion Beam Milling, RIBE, Plasma, ALE
薄膜制程/Growth
ALD, PA-MOCVD, CNT, Graphene
表面處理/Surface Treatment
Ion Beam, PIII, Plasma Cleaner, RTP
清洗/Cleaning
- Dry: Ion Beam, Plasma Cleaner
- Wet: Megasonic, 杜邦EKC清洗液

 

光學(xué)透鏡和儀器,實(shí)驗(yàn)室器具,專用儀器儀表,電化學(xué)設(shè)備和部件
MPS-C-3X0磁體探針臺(tái)系統(tǒng)是世界上*個(gè)探針臺(tái),能夠在被測(cè)試的器件上提供三維磁場(chǎng)控制。
磁體探針臺(tái) 清洗/消毒設(shè)備 產(chǎn)品信息

MPS-C-3X0磁體探針臺(tái)系統(tǒng)是世界上*個(gè)探針臺(tái),能夠在被測(cè)試的器件上提供三維磁場(chǎng)控制。

真正*的設(shè)計(jì)使自旋電子器件的做晶圓級(jí)測(cè)試、納米電子和許多其他材料和器件在所需磁場(chǎng)中準(zhǔn)確的測(cè)試和測(cè)量。自旋流和自旋矩振蕩器測(cè)試,磁模擬和識(shí)別復(fù)雜的多層結(jié)構(gòu)的各向異性只是應(yīng)用我們的MPS系統(tǒng)的幾個(gè)案例。

MPS系列磁體探針臺(tái)特點(diǎn):

  • MPS系列磁體探針臺(tái)是市場(chǎng)上*能提供在應(yīng)用磁場(chǎng)中對(duì)任意兩或三維定位的探針臺(tái),是自旋電子器件的特性和自旋電子學(xué)研究的一個(gè)終的探針臺(tái)解決方案。

  • MPS系列磁探針臺(tái)是*在市場(chǎng)上提供的晶圓級(jí)別的矢量磁場(chǎng)探測(cè)的探針臺(tái),特適合于在生產(chǎn)環(huán)境中自旋和磁電子器件測(cè)試。

  • MPS系列磁體探針臺(tái)*可定制的,基于開源的LabVIEW的控制軟件,很容易與較常見的測(cè)試和測(cè)量設(shè)備集成。

  • 高分辨率微定位器40、80、100和200tpi下探針的微米級(jí)定位螺釘。

  • 數(shù)據(jù)收集和/或分析與廣泛的輸出格式和選項(xiàng)可用。

  • 系統(tǒng)提供了三維霍爾探頭,以提供的穩(wěn)定性和精度所施加的磁場(chǎng)通過閉環(huán)控制。

可選項(xiàng):

  • 升級(jí)為150mm或200mm晶圓。

  • 擴(kuò)展磁場(chǎng)均勻性/穩(wěn)定性。

  • 高分辨率顯微鏡。

  • 用于探測(cè)期間的域成像偏振顯微鏡。            

  • 升級(jí)射頻探針            

  • 擴(kuò)展溫度范圍探測(cè)          

  • 相機(jī)的廣泛選擇          

  • 晶片卡盤廣泛的選擇            

  • 對(duì)micropositioners廣泛的選擇           

  • 超真空泵        

  • 受控環(huán)境測(cè)量

15168338725
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