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廣電計(jì)量檢測集團(tuán)股份有限公司

DataRay狹縫掃描式光束品質(zhì)分析儀

參考價(jià) 155000 145000
訂貨量 1-2 ≥3
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱深圳海納光學(xué)有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號(hào)Beam'R2,B
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質(zhì)代理商
  • 更新時(shí)間2019/8/28 16:16:37
  • 訪問次數(shù)1479
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~深圳海納光學(xué)有限公司(http://www.highlightoptics.com/)專業(yè)代理的激光器、光電測量、光學(xué)元件、光學(xué)材料和光機(jī)電產(chǎn)品,主要服務(wù)于物理與光學(xué)、化學(xué)、材料、生命科學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域。我們擁有強(qiáng)力的技術(shù)團(tuán)隊(duì),可為客戶提供系統(tǒng)集成、定制設(shè)計(jì)和技術(shù)服務(wù)。
海納光學(xué)的產(chǎn)品和服務(wù)主要有:衍射光學(xué)元件、光束整形器、分束器、微透鏡、NOIR激光防護(hù)眼鏡、激光護(hù)目鏡、光束分析儀、各類激光器、太赫茲元件、離軸拋物面鏡、太赫茲系統(tǒng)、高萊盒、熒光濾光片、紅外熱像儀、電控平移臺(tái)、顯微鏡載物臺(tái)、太陽光模擬器等。
我們秉承“專業(yè)、誠信、篤實(shí)”的理念,始終堅(jiān)持以客戶的體驗(yàn)為目標(biāo),致力于服務(wù)廣大的光電企業(yè)和科研院所,為客戶提供一站式的解決方案。

海納光學(xué)的主要產(chǎn)品有:
海納光學(xué)自主開發(fā)的:微透鏡陣列、分束鏡、工程散射片、螺旋相位片、結(jié)構(gòu)光模組、離軸拋物面鏡、掃擺鏡、中空回射器、太赫茲透鏡、太赫茲窗口鏡、分辨率板、太赫茲鏡頭、激光防護(hù)眼鏡。

以色列Holoor公司衍射光學(xué)元件,光束整形器、高斯整平頂DOE、勻光鏡、勻化器、寬帶散射片、分束鏡、多焦點(diǎn)DOE、長焦深DOE、玻璃切割模組、定制衍射元件;
德國Holoeye公司結(jié)構(gòu)光DOE、激光散斑、隨機(jī)點(diǎn)陣、定制衍射元件;
德國ADLoptica光束整形器,pishaper光纖激光平頂整形,πshaper激光整形器;
美國RPC Photonics公司螺旋相位板、微透鏡陣列、工程散射片,工程漫射體,擴(kuò)散片;
美國Thorlabs,Edmund離軸拋物面鏡,微透鏡,激光防護(hù)鏡;
丹麥NILT納米壓印模板,微加工掩膜,納米壓印機(jī),硅模板,石英母版;

美國NOIR激光防護(hù)眼鏡,激光防護(hù)鏡,激光護(hù)目鏡常用型號(hào):ARG, EC2, YG3, DBD, YG2, FG1, DBY, ND1, YLW;
德國Laservision激光護(hù)目鏡,激光防護(hù)鏡,激光防護(hù)玻璃,激光防護(hù)簾;
以色列DUMA公司 Spoton系列激光位置測量儀,Beamon光斑分析儀,光束分析儀,激光準(zhǔn)直儀, Autocollimator,內(nèi)調(diào)焦自準(zhǔn)直儀,Alignmeter激光位置角度測量儀;
法國Phaseview公司M2儀,光束質(zhì)量分析儀,激光輪廓儀,激光波前測量儀;
立陶宛Optogama公司紅外熱像儀(可替代7215紅外熱像儀)、紅外相機(jī)、紅外觀察儀、4lasers鏡片、晶體、擴(kuò)束鏡、人眼安全激光器;
美國Dataray光斑分析儀,光束分析儀,M2儀,紅外光斑分析儀;
白俄羅斯Solar Laser公司SHR波長計(jì),SHR-IR激光波長計(jì),低重頻大能量固體激光器;
加拿大Gentec功率計(jì),能量計(jì),太赫茲探測器;
 
美國Chroma公司濾光片、濾光片盒子、濾光片套裝、FISH濾光片、窄帶濾光片、拉曼濾光片;
美國Adnover公司濾光片,定制濾光片,超窄帶濾光片;
德國BATOP可飽和吸收鏡,SESAM,可飽和吸收耦合輸出鏡,共振可飽和吸收鏡,可飽和吸收體SA,太赫茲聚焦鏡,激光芯片,微芯激光器;
德國B.Halle公司消色差波片、超寬帶消色差波片;
美國Innovation Photonics中紅外聚焦鏡,中紅外隔離器,紅外光纖,紅外偏振片,光纖耦合透鏡;
德國Layertec飛秒激光鏡片,皮秒激光鏡片、寬帶鏡、啁啾鏡、GT干涉鏡;
美國DRO,Design research optics二氧化碳鏡片,ZnSe反射鏡,硒化鋅透鏡,CO2合束鏡、CO2分束鏡;
美國LRO,Laser Research Optics分光鏡、合束器、全反射鏡、部分反射鏡、金屬反射鏡、輸出耦合鏡、零相位延遲片、部分相位延遲片;
德國Femto Fiber公司布拉格光纖光柵;

美國Minusk隔震臺(tái),減震平臺(tái),精密隔振平臺(tái),原子力顯微鏡隔振臺(tái);
德國Marzhauser Wetzlar公司顯微鏡載物臺(tái),手動(dòng)顯微鏡平移臺(tái);
英國PRIOR顯微鏡平臺(tái),顯微鏡載物臺(tái),顯微鏡電動(dòng)平臺(tái),納米電動(dòng)平臺(tái),自動(dòng)上片機(jī),自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng);
加拿大Zaber電控平移臺(tái),線性致動(dòng)器,旋轉(zhuǎn)臺(tái),真空平移臺(tái),內(nèi)置編碼器和驅(qū)動(dòng)器的位移臺(tái);
法國Piezoconcept納米平臺(tái),納米壓電平臺(tái);
芬蘭Sensapex微操作器,微操作系統(tǒng);

加拿大Sicencetech太陽光模擬器,AA*太陽光模擬器,光伏測試系統(tǒng),紅外光譜儀;
美國TTI公司C995光學(xué)斬波器,光纖脈沖轉(zhuǎn)換器,模擬信號(hào)收發(fā)器,O/E轉(zhuǎn)換模塊探測器;
美國Phase Photonics紅外光譜儀,中紅外光譜儀;
美國Scientech公司精密電子天平,激光功率計(jì);

荷蘭Anteryon CP-332/CP-544激光器,非球面鏡;
德國Advanced Laser Diode Systems(ALSG公司)半導(dǎo)體皮秒激光器,可單模光纖、單光子輸出;
德國Frankfurt Laser公司各類激光器及激光配件;
德國Alphalas公司激光器,可調(diào)諧波片,寬帶可調(diào)波片,超快探測器UPD;
美國Photonics Industries公司(PI)納秒激光器,皮秒激光器,高功率,高能量;
日本Oxide公司266nm激光器,波長轉(zhuǎn)換器,晶體,激光組件;
立陶宛Eksma,Ekspla公司光纖激光器,超短脈沖選擇器,普克爾斯盒;

美國Terasense太赫茲相機(jī),太赫茲源, THz人體安檢儀,超快太赫茲探測器;
德國Menlo Systems公司飛秒光纖激光器,太赫茲時(shí)域光譜系統(tǒng),飛秒激光同步激發(fā)的太赫茲光譜系統(tǒng),光學(xué)頻率合成器、光梳;
瑞士Rainbow Photonics太赫茲時(shí)域光譜系統(tǒng)(1-14THz),可調(diào)諧太赫茲源,THz有機(jī)晶體;
俄羅斯Tydex公司太赫茲光學(xué)元件、太赫茲透鏡、太赫茲波片、TH分光片、TH濾光片、太赫茲衰減片、太赫茲衍射鏡片,Golay Cell 高萊探測器;

俄羅斯SmarTThermoelectrics半導(dǎo)體制冷片,單極TEC,多極TEC熱電模塊;
德國Jutec耐高溫手套,隔熱手套,熱防護(hù);
美國AppliedImage公司圖像測試卡、ISO 測試卡 、圖像質(zhì)量分析軟件、Bar Code條形碼校正;
還代理英國Laser2000,德國Pleiger Laseroptik,立陶宛Optogama,美國Precision Laser Scanning等廠家;

激光護(hù)目鏡,可飽和吸收鏡,衍射光學(xué)元件,光束整形器,太赫茲透鏡,太陽能模擬器,太赫茲相機(jī),激光測量儀,離軸拋物面鏡,微透鏡陣列
DataRay狹縫掃描式光束品質(zhì)分析儀,其與傳統(tǒng)的光斑截面分析儀的大區(qū)別是,無需繁復(fù)的移動(dòng)儀器便可以實(shí)時(shí)精準(zhǔn)的得到激光的激光輪廓分布,激光質(zhì)心,實(shí)時(shí)M2,指向,發(fā)散角和焦點(diǎn)位置和激光對(duì)準(zhǔn)的測量。
DataRay狹縫掃描式光束品質(zhì)分析儀 產(chǎn)品信息


    光束強(qiáng)度分析是光子學(xué)許多方面的重要工具。聚焦激光束中的精確強(qiáng)度分布在許多應(yīng)用中是至關(guān)重要的:流式細(xì)胞術(shù),激光打印,醫(yī)療激光和切割激光等等許多方面。 強(qiáng)度輪廓分布測量可以表征和改進(jìn)產(chǎn)品性能和生產(chǎn)過程,從而大大節(jié)省成本和時(shí)間,如果使用過傳統(tǒng)的激光光斑分析儀測量激光發(fā)散角以及M2值,那么您就知道該過程的耗時(shí)。 測量一次,沿z軸移動(dòng)探測器,在第二個(gè)平面測量,估計(jì)焦點(diǎn)位置,重新調(diào)整z,再次測量......通常是一個(gè)漫長,乏味和復(fù)雜的過程。使用BeamMap2可以實(shí)時(shí)得到測量激光光束的各項(xiàng)參數(shù)且無需繁復(fù)的人工操作便可以得到精確的激光M2,激光發(fā)散角,激光聚焦光斑位置。

    本文主要描述了BeamMap2和Beam'R2在參數(shù)和功能上的區(qū)別。功能上Beam'R2有的功能BeamMap2基本都有。同時(shí),BeamMap2所以擁有的功能如多個(gè)z平面掃描,實(shí)時(shí)M2,指向,發(fā)散角和焦點(diǎn)位置測量等特點(diǎn)都是Beam'R2所沒有的。
獲得patent的BeamMap2是only可商購的多平面光束質(zhì)量分析儀。 DataRay軟件中使用的BeamMap2的屏幕截圖如下所示。 在這里,您可以在四個(gè)不同的z位置看到四個(gè)同時(shí)光束輪廓。 軟件顯示該光束在X,Y和Z中正確聚焦,并且該光束的M2為1.47。

    本文主要介紹DataRay狹縫掃描式光束品質(zhì)分析儀Beam'R2和BeamMap2。其與傳統(tǒng)的光斑截面分析儀的大區(qū)別是,無需繁復(fù)的移動(dòng)儀器便可以實(shí)時(shí)精準(zhǔn)的得到激光的激光輪廓分布,激光質(zhì)心,實(shí)時(shí)M2,指向,發(fā)散角和焦點(diǎn)位置和激光對(duì)準(zhǔn)的測量。BeamMap2擁有Beam'R2所沒有的功能,如實(shí)時(shí)M2,指向,發(fā)散角和焦點(diǎn)位置的測量的功能是只有BeamMap2具備的。

    DataRay的Beam'R2非常適合于許多激光光束分析的應(yīng)用。 通過標(biāo)準(zhǔn)的2.5μm寬度大小的狹縫和更大的刀口切面,Beam'R2能夠測量直徑小至2μm的激光光束。 通過選擇硅和InGaAs或擴(kuò)展的InGaAs,Beam'R2可以分析190 nm至2500 nm的光束。 Beam'R2掃描狹縫儀器提供比基于相機(jī)的系統(tǒng)更高的分辨率。

    DataRay的BeamMap2代表了一種*不同的實(shí)時(shí)光束分析方法。 它通過允許沿光束行程的多個(gè)位置進(jìn)行測量,擴(kuò)展了Beam'R2的測量功能。 這種實(shí)時(shí)狹縫掃描系統(tǒng)在旋轉(zhuǎn)圓盤上的多個(gè)z平面中使用XY狹縫對(duì),以同時(shí)測量四個(gè)不同z位置處的四個(gè)光束輪廓。 BeamMap2*的patent設(shè)計(jì)適用于焦點(diǎn)位置,M2,光束發(fā)散和指向的實(shí)時(shí)測量。


 
DataRay狹縫掃描式光束品質(zhì)分析儀Beam'R2和BeamMap2特點(diǎn):
-ISO兼容光束直徑測量
-端口供電的USB2.0
-自動(dòng)增益功能
-可選配件,適用于符合ISO 11146標(biāo)準(zhǔn)的M2測量。
-實(shí)時(shí)二維狹縫
-分辨率高達(dá)0.1μm
-探測器選項(xiàng),190 - 2500 nm
-5 Hz更新速率(用戶可調(diào)節(jié)2-12 Hz)
-測量高重復(fù)脈沖激光
     脈沖小PRR = [500 /(光束直徑,以μm為單位)] kHz
美國DataRay狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀BeamMap2所特別具有的特點(diǎn):
-多個(gè)z平面掃描
-XYZ曲線,外加θ-Φ角度測量
-焦點(diǎn)位置和直徑
-實(shí)時(shí)M2,指向和發(fā)散角
-使用BeamMap2-Collimate實(shí)時(shí)測量準(zhǔn)直光束的發(fā)散度
-識(shí)別焦點(diǎn),重復(fù)精度為±1μm(光束相關(guān))
-可選的LensPlate2用于探測難以接近的光束束腰和重新成像的波導(dǎo)
(Optional LensPlate2 for reaching inaccessible beam waists and reimaging waveguides)
DataRay狹縫掃描式光斑質(zhì)量分析儀Beam'R2和BeamMap2主要應(yīng)用:
-非常小的激光束輪廓
-光學(xué)組件和儀器對(duì)準(zhǔn)
-OEM集成
-鏡頭焦距測試
-實(shí)時(shí)診斷聚焦和對(duì)準(zhǔn)誤差
-將多個(gè)裝配體實(shí)時(shí)設(shè)置為相同的焦點(diǎn)
DataRay狹縫掃描式光斑質(zhì)量分析儀Beam'R2和BeamMap2參數(shù)規(guī)格對(duì)比
參數(shù) 參數(shù)值 BeamMap2 Beam'R2 Comments
波長可選范圍(nm) 190-1150, 650-1800, 190-1800, 190-2500  Yes Yes Si, InGaAs, Si + InGaAs,
被掃描光束直徑 2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X) Yes Yes Si + InGaAs, extended
X-Y 輪廓及中心分辨率: 0.1 μm 或者 0.05% 的掃描范圍 Yes Yes 
精度: ± <2% ± ≤0.5μm Yes Yes 
CW or Pulsed 連續(xù)/脈沖 小PRR ≈ [500/(激光直徑um)]kHz Yes Yes 
光束對(duì)準(zhǔn)準(zhǔn)直 ± 1 mrad with BeamMap2 Colli¬Mate Yes - 
M2 測量 1 to >20, ± 5% Yes - Beam Dependent
實(shí)時(shí)更新 5 Hz Yes Yes 4 Z-plane hyperbolic fit
大功率&輻照度 1 W Total & 0.3 mW/μm2 Yes Yes Adjustable 2-12 Hz
增益范圍: 32dB Yes Yes Metallic film on Sapphire slits
Display graphics: All: X-Y position; Profiles.
BeamMap2 only: M2, Focus; Divergence, Boresight/Pointing

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