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可焊性測(cè)試儀孔徑測(cè)量?jī)x

參考價(jià)	￥ 20
訂貨量	≥1 件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱東莞市臺(tái)淮電子科技有限公司
品牌
型號(hào)5200TN
所在地東莞市
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時(shí)間2022/10/1 9:13:39
訪問次數(shù)506

產(chǎn)品標(biāo)簽:

可焊性測(cè)試儀性能可焊性測(cè)試儀型號(hào)可焊性測(cè)試儀款式可焊性測(cè)試儀用途供應(yīng)可焊性測(cè)試儀

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

東莞市臺(tái)淮電子科技有限公司，位于廣東省東莞市南城區(qū)宏圖路88號(hào)福威大廈，是一家專業(yè)從事精密儀器設(shè)備及電子材料的銷售和技術(shù)服務(wù)于一體的*，成立于2013年，注冊(cè)資金1000萬(wàn)元?！?nbsp;

公司總員工30余名，其中各類專業(yè)技術(shù)人員15名，具有中高級(jí)職稱人員5名，全部大專及本科學(xué)歷。自成立以來，本著“誠(chéng)信、實(shí)干、創(chuàng)新、關(guān)愛”的理念，以“始于客戶的需求，終于客戶的滿意”為宗旨，構(gòu)建和完善了“以企業(yè)為主體、市場(chǎng)為導(dǎo)向”的技術(shù)服務(wù)體系。

為更好的服務(wù)國(guó)人的企業(yè)，我司成立了廣東大前科技有限公司及華東分公司昆山漢昌電子材料有限公司，中國(guó)臺(tái)灣分公司中國(guó)臺(tái)灣定盈科技有限公司境外公司TOP STANDARD LIMITED。

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光譜儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

加工定制	否

可焊性測(cè)試儀改善了樣品夾具的裝接性能，用磁性?shī)A具將樣品固定在主機(jī)的連接處，確保樣品開始測(cè)試的位置，從而得到更精確的再現(xiàn)性。

可焊性測(cè)試儀孔徑測(cè)量?jī)x 產(chǎn)品信息

5200T特性

5200T(沾錫天平)商用于Wetting Balance與Dip and Look的測(cè)試與評(píng)價(jià)，5200T可針對(duì)助焊劑、焊錫等焊接材料以及各種電子元器件、PCB的可焊性進(jìn)行測(cè)試與評(píng)價(jià)。
近年來被廣泛應(yīng)用于無(wú)鉛焊料(Lead-free Soldering)的開發(fā)研究及生產(chǎn)工藝技術(shù)與質(zhì)量管理的提高。
5200T的特性就是儀器本身的穩(wěn)定性與靈敏度及其測(cè)試精度的高度的*性、減輕測(cè)試負(fù)擔(dān)的同時(shí)、得到更好更精確的再現(xiàn)性、可廣泛運(yùn)用于不同領(lǐng)域里的可焊性及潤(rùn)濕性的測(cè)試與評(píng)價(jià)。

適合用、國(guó)家、行業(yè)規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)

●IEC 60068-2-54

●IEC 60068-2-69

●IPC/EIA J-STD-002B

●IPC/EIA J-STD-003B

●MIL STD 883

●JIS C 60068-2-69

●JIS C 60068-2-54

●JIS Z 3798-4

●JIS C 0099

●JEITA ET-7401

●JEITA ET-7404

●JEITA ET-7411

●自定規(guī)格可設(shè)定

可焊性測(cè)試儀電子天平：

改良的Micro電子天平搭乘控制系統(tǒng)可自動(dòng)進(jìn)行零調(diào)整，減少了測(cè)試負(fù)擔(dān)，自動(dòng)顯示天平的平衡狀態(tài)，從而達(dá)到天平zui終自動(dòng)調(diào)平的狀態(tài)，這種新型Micro電子天平能力快潤(rùn)濕力的應(yīng)答速度，進(jìn)一步提高了測(cè)試結(jié)果的再現(xiàn)性，使動(dòng)態(tài)潤(rùn)濕力與時(shí)間的分解能達(dá)到0.01mN以下。

可焊性測(cè)試儀磁性樣品夾具：

改善了樣品夾具的裝接性能，用磁性?shī)A具將樣品固定在主機(jī)的連接處，確保樣品開始測(cè)試的位置，從而得到更精確的再現(xiàn)性。

5200T主機(jī)單體測(cè)試與使用PC測(cè)試：

為了增強(qiáng)了主機(jī)的單獨(dú)測(cè)試性能，搭載了觸摸屏，不但可以設(shè)定各項(xiàng)條件，還可以同時(shí)看到相應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)及曲線分析，也可以與PC并用測(cè)試，使其達(dá)到更好的分析能力。為了能確保更好的再現(xiàn)性，采用了Micro微調(diào)與基點(diǎn)定位

關(guān)鍵詞：電子元器件電子天平