MX-IR / BX-IR紅外顯微鏡詳細(xì)介紹：

非破壞觀察半導(dǎo)體器件內(nèi)部

隨著不斷發(fā)展的電子設(shè)備小型化、超薄化的需求，半導(dǎo)體器件的封裝技術(shù)也高速進(jìn)化。使用近紅外線顯微鏡，可以對SiP（System in Package）、三維組裝、CSP（Chip Size Package）等用可視觀察無法看到的領(lǐng)域進(jìn)行無損檢查和分析。

倒裝芯片封裝的不良狀況無損分析 
在倒裝芯片的焊接中，組裝后的焊接部分和模塊無法用可見光檢查。但是，如果使用近紅外線顯微鏡，則可以在不破壞封裝的前提下，透過硅觀察IC芯片內(nèi)部。只要置于顯微鏡下，就可以輕松進(jìn)行不良狀況分析。對必需用FIB（Focused Ion Beam）處理位置的也有效。 

晶圓級CSP開發(fā)的環(huán)境試驗導(dǎo)致芯片損壞 
晶圓級CSP的高溫高濕試驗導(dǎo)致器件的變化，可以用非接觸方式檢查。此外，還能可靠的觀察銅引線部分的融解和腐蝕引起的漏電、樹脂部分的剝離等。

MX-IR / BX-IR紅外顯微鏡

針對不同樣品的顯微鏡產(chǎn)品陣容 

MX系列產(chǎn)品（半導(dǎo)體檢查型號） 

可以用來觀察150～300 mm晶圓等的大型樣品。只對應(yīng)反射照明觀察。 

西努光學(xué)創(chuàng)建于2003年，主營工業(yè)顯微鏡及制樣設(shè)備、鏡片測定設(shè)備，高速攝像系統(tǒng)、工業(yè)內(nèi)窺鏡、機器視覺等工業(yè)及科研應(yīng)用的檢測設(shè)備及系統(tǒng)集成。
西努光學(xué)秉承“以光學(xué)為核心，為客戶提供解決方案”的經(jīng)驗思路，經(jīng)過17年的努力，成為眾多企業(yè)、高校科研單位提供各種專業(yè)化的光學(xué)系統(tǒng)解決方案。并于2012 年導(dǎo)入SAP 管理系統(tǒng)，通過系統(tǒng)資源整合，為客戶提供更優(yōu)質(zhì)、快捷的專業(yè)化服務(wù)。
 2016年，我們積極引進(jìn)*、檢測設(shè)備的同時導(dǎo)入制樣等配套設(shè)備以豐富我們實驗室平臺，以更好的為客戶提供現(xiàn)場體驗，從微米到納米滿足客戶從制樣到結(jié)果分析的一站式體驗服務(wù)。