電鍍層測(cè)厚儀

分類方法：
根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型：
1、磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量，導(dǎo)磁材料一般為鋼、鐵、銀、鎳等，這種方法測(cè)量精度zui高。
2、渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量，這種方法較磁性測(cè)厚法精度低。
3、超聲波測(cè)厚法：適用于多層涂鍍層厚度的測(cè)量或者是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合，但是價(jià)格較貴，精度也不高。
4、電解測(cè)厚法：這種方法與上述三種方法不同，不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層，精度也不高，測(cè)量起來(lái)較其他幾種更為麻煩。
5、放射測(cè)厚法：這種方法測(cè)量昂貴，適用于一些特殊場(chǎng)合。

電鍍層測(cè)厚儀原理：
射線在穿透一定厚度的物質(zhì)時(shí)，其強(qiáng)度呈指數(shù)規(guī)律衰減，這和半衰期的公式相似，其公式為：
I=Tr*EXP(-UX)
Tr為初始射線強(qiáng)度，I為穿過(guò)物體后的射線強(qiáng)度，U為衰減系數(shù)，X為射線穿過(guò)的厚度。
對(duì)于不同的材料，衰減系數(shù)U是不同的，因此使用射線測(cè)量厚度時(shí)必須知道被測(cè)材料的U值。一般而言，材料密度越大，其U值就越大，比如鉛的密度在天然非放射性元素中的密度是zui大的，其相應(yīng)的射線阻擋能力就越強(qiáng)，因此在核實(shí)驗(yàn)中用作屏障，與之類似的就是鉛玻璃。
鍍層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量鍍層厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電阻感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，這個(gè)距離即鍍層厚度.