金屬材料成分分析儀可以用于合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）

EDX 4500H金屬材料成分分析儀—— X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。 

該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。 

另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

技術參數(shù)

產(chǎn)品型號：EDX 4500H

產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀 

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同） 

同時分析元素：一次性可測幾十種元素 

測量時間：30秒-200秒 

探測器能量分辨率為：145±5eV

管壓：5KV-50KV 

管流：50μA-1000μA

測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體

輸入電壓：AC 110V/220V

環(huán)境溫度：15℃-30℃ 

環(huán)境濕度：35%-70%

樣品腔體積：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

標準配置

高效超薄窗X光管 

SDD硅漂移探測器 

數(shù)字多道技術

光路增強系統(tǒng) 

高信噪比電子線路單元 

內(nèi)置高清晰攝像頭 

自動切換型準直器和濾光片 

自動穩(wěn)譜裝置 

三重安全保護模式 

可靠的整體鋼架結構

90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏

真空泵

性能特點

高效超薄窗X光管，指標達到*水平 

新的數(shù)字多道技術，讓測試更快，計數(shù)率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好

SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比 

低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好 

智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍 

自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性

高信噪比的電子線路單元 

針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣 

解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度

多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制

內(nèi)置高清晰攝像頭 

金屬材料成分分析儀液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然