W5型全譜直讀光譜儀擁有16項技術，可快速的對金屬材料樣品進行元素測定。光學系統(tǒng)采用CMOS檢測器，光譜范圍覆蓋全部典型材料。無論從低含量元素還是到高含量的元素，它都能準確、可靠的分析。公司在行業(yè)內(nèi)擁有光譜多年的生產(chǎn)經(jīng)驗積累，針對不同材料、不同要求，設計了這款全新的、更具性價比的全譜直讀光譜儀，可滿足金屬制造業(yè)、加工業(yè)及金屬冶煉用于質量監(jiān)控、材料牌號識別、材料研究和開發(fā)的應用。
帕邢-龍格結構凹面光柵，全譜覆蓋，滿足客戶對全元素檢測的需求。
直射式光學技術及采用MgF材料制作的光學器件，保證紫外區(qū)域的性能。
高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng)，更低的暗電流，更好的檢出限，更高的穩(wěn)定性，更強的靈敏度，滿足N的分析要求。
全數(shù)字化智能復合光源DDD技術，帶來*分析性能。
緊湊的設計及半導體控制技術，使得光源具有更好的穩(wěn)定性、更強的可靠性。
高能預燃技術（HEPS),激發(fā)參數(shù)調(diào)整，充分滿足不同基體、不同樣品以及不同分析元素的激發(fā)要求。
激發(fā)臺直接將激發(fā)光導入光學系統(tǒng)
開放式樣品臺，滿足大樣品測試要求。
變換電極可對小樣品及復雜幾何形狀樣品分析有更好的性能
視頻識別技術，確保樣品臺激發(fā)安全，可監(jiān)測樣品臺的全景。
智能氬氣流設計及粉塵收集清理裝置
*的氬氣噴射技術，有效消除激發(fā)過程中等離子體的飄移，確保CCD檢測器能夠觀測高溫區(qū)域光信號，提高精度和穩(wěn)定性。
激發(fā)后，脈沖式氬氣吹掃，提高粉塵去除效果，提升儀器的短期和*穩(wěn)定性。
