β射線法揚(yáng)塵監(jiān)測(cè)系統(tǒng)工作原理:
β射線法揚(yáng)塵監(jiān)測(cè)系統(tǒng)通過(guò)*的β射線法微處理器系統(tǒng)控制,實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)量。在開(kāi)始采樣時(shí),發(fā)射的β射線通過(guò)一個(gè)過(guò)濾帶的清潔面測(cè)量,然后該過(guò)濾帶截面被推至采樣口,粒子物質(zhì)被吸入采樣口并且沉淀在濾紙上,當(dāng)采樣結(jié)束后,過(guò)濾帶返回到其原始位置,再重新測(cè)量透過(guò)截面的β射線,通過(guò)兩種測(cè)量結(jié)果的不同,從而準(zhǔn)確的得出粒子濃度。
應(yīng)用這種β射線衰減的原理測(cè)量質(zhì)量粒子密度,一個(gè)小的14C射線源(β射線)連接一個(gè)靈敏的用來(lái)計(jì)算發(fā)射的β粒子的探測(cè)器。該過(guò)濾帶放置在β射線源和探測(cè)器之間,當(dāng)沉淀在過(guò)濾帶上的粒子增加時(shí),探測(cè)器上測(cè)到的β粒子便會(huì)減少。
實(shí)時(shí)評(píng)估運(yùn)行狀態(tài)
確保好的可信度和高的數(shù)據(jù)修復(fù)質(zhì)量,用戶可以根據(jù)數(shù)據(jù)的需求選擇各種標(biāo)準(zhǔn),包括與平均值的偏離情況,高值的偏離和許多其他常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)識(shí),如系統(tǒng)斷電等,這種帶有日期、時(shí)間和類(lèi)型的標(biāo)識(shí)會(huì)被記錄,并且在日常的數(shù)據(jù)修復(fù)時(shí)打印出來(lái)。
每個(gè)循環(huán)進(jìn)行的自動(dòng)零點(diǎn)和漂移標(biāo)定可以確??煽慷臏y(cè)量,當(dāng)儀器出現(xiàn)故障,錯(cuò)誤標(biāo)識(shí)會(huì)被存儲(chǔ)且數(shù)據(jù)視為無(wú)效。零點(diǎn)測(cè)試是在每個(gè)循環(huán)開(kāi)始和結(jié)束時(shí)進(jìn)行的,在測(cè)量空白過(guò)濾紙時(shí)仍可以保持正常輸出。漂移測(cè)量是通過(guò)在測(cè)量路徑上自動(dòng)插入一張參比膜來(lái)實(shí)現(xiàn)的。