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納米粒度分析儀粒度/顆粒/粉末分析儀器

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公司名稱杭州嘉維創(chuàng)新科技有限公司
品牌
型號
所在地
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時(shí)間2023/8/31 9:49:00
訪問次數(shù)6053

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公司介紹主營產(chǎn)品

杭州嘉維創(chuàng)新科技有限公司是多家世界一線儀器設(shè)備制造商的合作伙伴。主要面向高校、科研機(jī)構(gòu)、工礦企業(yè)銷售進(jìn)口分析、測試、制備儀器設(shè)備的專業(yè)公司，竭力為技術(shù)創(chuàng)新科研創(chuàng)新服務(wù)。

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儀器儀表

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

納米粒度分析儀：N4Plus是采用激光法測超細(xì)顆粒的儀器，激光法測顆粒度，是基于ISO13321標(biāo)準(zhǔn)分析顆粒粒度的一種方法，即利用運(yùn)動(dòng)著的顆粒所產(chǎn)生的動(dòng)態(tài) 的散射光，通過光子相關(guān)光譜分析法PCS（Photon Correlation Spectroscopy）分析納米顆粒粒度，其特點(diǎn)是快速、準(zhǔn)確、分辨率高。

納米粒度分析儀粒度/顆粒/粉末分析儀器產(chǎn)品信息

納米粒度分析儀

納米粒度分析儀技術(shù)參數(shù)

           1.測量范圍： 3-3,000nm
           2.測量時(shí)間：30-180秒
           3.重現(xiàn)性：優(yōu)于3%CV
           4.可區(qū)別平均粒度比大于2.5的兩個(gè)峰
           5.精度： 2－5%

主要特點(diǎn)

1.是采用六個(gè)角度（在0-900C角度范圍）檢測的儀器
2.的指紋分析給出六角度的Unimodal分析圖，快速判別樣品類型

Zeta電位和分子量分析儀的技術(shù)參數(shù)

1、粒徑測量
大粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm *
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v *
檢測角度: 175o 和 12.8o
小樣品量: 12 μl

2、Zeta電位測量
Zeta電位范圍: 無實(shí)際限制
電泳遷移率: 0 – 無實(shí)際上限
大樣品電導(dǎo)率: 200mS/cm
大樣品濃度: 40% w/v
小樣品量: 150 μl
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *

3、分子量測量
分子量范圍 342 - 2 ×10⁷ Da * （動(dòng)態(tài)光散射）
980 - 2 ×10⁷Da * （靜態(tài)光散射）
小樣品量 12 μl

* 取決于樣品