J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式，包括光柵線狀、曲線、隨機(jī)點(diǎn)、任意尺寸網(wǎng)格或預(yù)先編制的模式， 長(zhǎng)激光脈沖系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒大（常大于數(shù)微米），駐留在輸送管中，導(dǎo)致運(yùn)輸效率低，并且降低了分析的靈敏度，用戶可*依靠J200系統(tǒng)輸送高質(zhì)量的樣品顆粒到ICP-MS系統(tǒng)，用戶簡(jiǎn)單、方便地操作硬件部件。只需簡(jiǎn)單點(diǎn)擊tab鍵，用戶即可檢查飛秒激光、氣流系統(tǒng)、光模塊、3-D操作臺(tái)、自動(dòng)高度調(diào)節(jié)傳感器、樣品室等部件的工作狀態(tài)。

設(shè)備特點(diǎn)：
1、系統(tǒng)還可以對(duì)植物葉片進(jìn)行深度的分析；
2、可編制成組，自動(dòng)順序執(zhí)行，使測(cè)量工作高度自動(dòng)化；
3、用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式；
4、自動(dòng)高度調(diào)節(jié)傳感器、樣品室等部件的工作狀態(tài)；
5、用戶可將多個(gè)硬件部件運(yùn)行命令集合，并按時(shí)間順序排列；
6、易瀏覽不同的樣品區(qū)域，設(shè)立靈活的采樣方式；
7、連續(xù)可調(diào)光學(xué)衰減器，集成激光能量監(jiān)測(cè)單元。

J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)是ASI公司的技術(shù)團(tuán)隊(duì)擁有30多年激光剝蝕技術(shù)的基礎(chǔ)研究經(jīng)驗(yàn)和LA-ICP-MS方法的研究背景，系統(tǒng)通過非熱過程，施加超高激光輻射剝蝕樣品，產(chǎn)生的顆粒能在ICP源*消解，確保在測(cè)量過程中獲取高精度、穩(wěn)定的元素或同位素信號(hào)，J200LA-fs剝蝕均勻一致，剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學(xué)特性，無(wú)需高度匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，也能進(jìn)行高精度、定量LA-ICP-MS測(cè)量。