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廣電計量檢測集團股份有限公司

Vion Plasma FIB 儀器

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱廣州佳??茖W儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2021/8/25 15:28:11
  • 訪問次數(shù)353
產(chǎn)品標簽:

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廣州思博科技設備有限公司是一家專業(yè)從事各類分析檢測儀器設備銷售,及其應用技術推廣的*企業(yè)。我們經(jīng)營的產(chǎn)品包括X射線分析儀器、電子顯微分析儀器、無損檢測(探傷)儀、顆粒(多孔)材料檢測儀器、材料試驗機、熱分析儀、光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀、流變儀、粘度計、硬度計、電化學分析儀器、光學儀器、測量(計量)儀器、顯微鏡制樣設備、實驗室家具、前處理設備、配件與耗材等諸多品類;主要代理SHIMADZU、FEI、QUANTACHROME、 THERMO、GE、TA、RENISHAW、AMETEK(PAR、SOLARTRON)、KOSAKA、ITW、ZEISS、LEICA、ARCHIMEDES、AST、H;用戶群涵蓋新技術、新能源、新材料、電池、照明、家電、信息、電子、陶瓷、建材、汽車、五金、機械、化工、涂料、塑膠、玩具、印刷、食品、醫(yī)藥、紡織、服裝、質(zhì)檢、農(nóng)檢、商檢、藥檢、科研、院校等眾多行業(yè)領域。
x射線衍射儀
Vion Plasma FIB 儀器
Vion Plasma FIB 儀器 產(chǎn)品信息

 

產(chǎn)品概述:
Vion PFIB 是一款具有高精度、高速度切割和銑蝕能力的儀器。 其具有選擇性銑蝕所關注區(qū)域的能力。 此外,PFIB 可以選擇性沉積帶圖案的導體和絕緣體。 高速銑蝕和精密控制的結(jié)合可確保該系統(tǒng)以多種方法應用于集成電路的制造,如:
• 凸起物、焊線、TSV 和晶片堆疊失效分析
• 般移除封裝和材料,實現(xiàn)嵌入芯片塊的失效分析和故障隔離
• 適用于封裝級流程監(jiān)控和開發(fā)
• 封裝部件和 MEMS 設備的缺陷分析

主要優(yōu)點:
• 借助較傳統(tǒng)鎵離子 FIB 快 20 倍的銑蝕速度提高生產(chǎn)效率
• 快速精確的橫截面操作可揭示缺陷和表面下方特征
• 銑蝕和成像射束電流變化范圍寬廣(從數(shù) pA 至 1 μA 以上)
• 使用沉積化學來保護表面特征
• 可選的電荷中和器功能可實現(xiàn)對帶電結(jié)構(gòu)進行切片
• 可選的背面硅使用、同軸氣體輸送噴嘴
• 通用硬件和軟件架構(gòu)以及其他 FEI FIB、SEM 和 DualBeam 儀器

關鍵詞:芯片
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