全內(nèi)反射熒光X射線分析儀OURSTEX 200TX
【特征】 ● 堪比ICP/原子吸收系統(tǒng)的高靈敏度 ● 總重量，僅8kg ● 可以從 ppm 分析 ppb 級(jí) ● 無(wú)需液氮或冷卻水 [用法] ● 用于檢查井水和河流 ● 用于分析土壤和玩具中的洗脫水 ● 用于食品、醫(yī)藥、法醫(yī)領(lǐng)域的現(xiàn)場(chǎng)分析
測(cè)量原理
X射線熒光分析法全內(nèi)反射熒光X射線分析法
與普通熒光X射線分析法不同，全內(nèi)反射熒光X射線分析法是以等于或小于全反射臨界角的低角度入射到樣品表面，使其不穿透樣品臺(tái)基板，并且來(lái)自基板內(nèi)部。由于不產(chǎn)生散射的 X 射線，因此可以進(jìn)行顯微分析。
測(cè)定例1（溶液分析）
包含 1 ng Sc、Cr、Co、As 和 Sr 的熒光 X 射線光譜
測(cè)量例2（毛發(fā)分析）
30多歲男性頭發(fā)的X射線熒光光譜
應(yīng)用實(shí)例
頭發(fā)成分分析
藥物分析（感冒藥）
雨水分析
混合標(biāo)準(zhǔn)溶液分析
指紋成分分析
空氣中顆粒物的分析
OURSTEX 200TX 規(guī)格
| 測(cè)量原理 | 全內(nèi)反射 X 射線熒光分析 |
| 測(cè)量對(duì)象 | 液體、飲用水、土壤滲濾液、污水等。 |
| 測(cè)量元件 | 13 AL- 92 ù |
| 狹縫機(jī)構(gòu) | X 射線路徑波導(dǎo) |
| 樣品臺(tái) | 石英光學(xué)平板 |
| 設(shè)備重量 | 約8kg |
| 樣品室氣氛 | 大氣層 |
| X射線額定輸出 | 0-48kV, 0.2mA max / 48-50kV, 0.175mA max |
| 探測(cè)器 | 電子冷卻 SDD |
| 計(jì)數(shù)電路 | 數(shù)字處理方式（數(shù)字信號(hào)處理器） |
| 測(cè)量條件 | 溫度： 5-27 ℃濕度：20-75% 電源：AC100V，5A 設(shè)備：D類安裝 |
| 其他選項(xiàng) | 噴墨彩色打印機(jī)、鼠標(biāo)等 |
* OURSTEX 200TX 的引進(jìn)需要事先通知?jiǎng)趧?dòng)基準(zhǔn)監(jiān)督署。
