| 儀器名稱： | 二次離子飛行時(shí)間質(zhì)譜儀（TOF-SIMS） | 型號(hào)： | 德國(guó)IONTOF TOF.SIMS 5 |
| 檢測(cè)項(xiàng)目： | （1）深度分辨率：幾個(gè)納米；（2）空間分辨率：<一個(gè)微米；（3）質(zhì)量分辨率：m/m5000（4）檢測(cè)靈敏度：ppmppb；（5）絕緣層厚度為幾個(gè)微米的樣品質(zhì)譜分析 | ||
| 應(yīng)用范圍： | （1）樣品組分和雜質(zhì)元素縱向分布的深度剖析；（2）樣品組分和雜質(zhì)元素面分布的一維線掃描分析；（3）樣品組分和雜質(zhì)元素面分布的離子圖象；（4）多層薄膜樣品組分和雜質(zhì)元素分布及界面情況分析；（5）厚度為幾個(gè)微米絕緣層樣品的深度剖析 | ||
| 制樣要求： | 粉末樣品50mg即可，塊狀樣品長(zhǎng)寬1cm以內(nèi)，厚度5mm以內(nèi)。 如果樣品比較容易氧化或者吸水請(qǐng)?zhí)崆奥?lián)系客服，需要真空封裝好提前預(yù)約時(shí)間測(cè)試。樣品在超高真空下必須穩(wěn)定，無(wú)腐蝕性。建議樣品用干凈玻璃瓶盛裝或鋁箔紙包裝。 | ||
PS：送樣請(qǐng)附帶“委托測(cè)試單”。
測(cè)試提示：
1.可開(kāi)正規(guī)測(cè)試發(fā)票，附帶測(cè)試清單。
2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員，測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷，測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化；
3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論，商定最終測(cè)試條件；
4.測(cè)試人員與顧客通過(guò)或郵件溝通，出現(xiàn)測(cè)試糾紛，郵件或記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請(qǐng)加和技術(shù)人員交流：。
5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國(guó)家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。
