MicroCT的3D空間分辨率測(cè)試用——Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom
評(píng)估3D空間分辨率的一個(gè)很好的工具是可用德國QRM GmbH獲得的Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom 。體模包含兩個(gè)放置在正交位置的硅芯片，包圍了1至10μm的多個(gè)分辨率測(cè)試圖案。在"使用QRM公司的MN099_3D空間分辨率 "中，模體的使用以SkyScan 1272臺(tái)式高分辨率微CT為例。
可選地，ASTM E 1695-95包含基于均勻圓柱狀測(cè)試對(duì)象（例如鋁銷）的掃描的測(cè)試方法。3D空間分辨率通過調(diào)制傳遞函數(shù)進(jìn)行量化。另外，給出了確定對(duì)比靈敏度的指令。
來自QRM GmbH的Bar Pattern NANO Phantom掃描的重建切片，使用SkyScan 1276高分辨率體內(nèi)微型CT進(jìn)行了掃描，圖像像素尺寸為2.8μm。
QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體，MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試技術(shù)參數(shù)：
柱狀部分：
直徑：5.2 mm
總長：19.1 mm
材料：致密塑料
芯片部分：
直徑：2.96 mm
總長：0.66 mm
材料：硅
芯片上圖樣尺寸范圍：1µm至10µm
圖樣深度：5µm至15µm
對(duì)比材料：硅/空氣
QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體，MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試卡芯片上有一個(gè)傾斜的邊緣(字母“L”字樣)以及一個(gè)西門子星卡圖樣(呈放射狀)。不同的圖樣結(jié)構(gòu)均以這樣的方式排布于芯片上，從而使用戶僅通過一次曝光和測(cè)量就可以對(duì)整個(gè)芯片的中心以及外圍的空間分辨率做出評(píng)估。
作為我們流行的MicroCT-BarPattern-Phantom的進(jìn)一步發(fā)展，我們現(xiàn)在推出BarPattern-NANO！
QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體，MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試卡 | |
| 基礎(chǔ)材料： | 固體塑料（切屑放在空氣中的支撐件上-壁厚> 0.3 mm） |
| 模體直徑： | 5.2毫米 |
| 高度： | 19毫米 |
| 硅芯片的措施： | 3 x 3 x 0.66毫米 |
| 芯片上的結(jié)構(gòu)（分辨率）： | 分別為1至10 µm。500至50 LP / mm |
| 芯片材質(zhì)： | 硅 |
| 圖案對(duì)比 | 硅/空氣 |
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