品牌德國 Instrument Systems型號TOP 200
用途CAS 140D光譜儀配件貨期4-6周
產(chǎn)地德國
德國Instrument Systems(IS) TOP 200 光學(xué)探頭 輻射亮度測量探頭
TOP 200 –用于輻射和亮度測量的光學(xué)探頭
詳情介紹
德國Instrument Systems(IS) TOP 200 光學(xué)探頭 輻射亮度測量探頭
TOP 200 –用于輻射和亮度測量的光學(xué)探頭
TOP 200 光學(xué)探頭基于普里查德式光學(xué)設(shè)計(jì),帶有集成式取景相機(jī)。
產(chǎn)品特長:
普里查德式光學(xué)設(shè)計(jì)配有傾斜度僅 15o 的孔鏡,可以提供非常圓的清晰圖像點(diǎn)
光纖的靈活連接和獲取可重現(xiàn)讀數(shù)的L模式混合器,以及極低的偏振靈敏度
可通過軟件選擇的 6 種測量點(diǎn)大小
具有寬視場的內(nèi)部取景相機(jī)
ui小的測量點(diǎn):80 μm
測試對象的可選照明
是具有單孔徑的低成本替代產(chǎn)品。
測量應(yīng)用
測得的輻射強(qiáng)度由 TOP 200 通過多模光纖耦合到光譜儀中。Instrument Systems 的L模式混合器可確保光纖中的光透射均勻,即使光纖位置改變,也可產(chǎn)生可重現(xiàn)讀數(shù)。
普里查德原則支持在測量過程中觀察視場,并監(jiān)控視場進(jìn)行準(zhǔn)確定位。取景相機(jī)的圖像由 SpecWin Pro 軟件自動導(dǎo)入并與讀數(shù)一起保存。
產(chǎn)品類型
型號 | 描述 |
---|---|
基本規(guī)格和光纖 | |
TOP200-100 | 光學(xué)探頭的基本規(guī)格,帶多模光纖和光纖束連接器 (無鏡頭和光纖) |
TOP200-203 | 帶模式混合器和 PLG 適配器的多模光纖(長度為 2.3 mm); 300–2200 nm |
TOP200-204 | 帶模式混合器和 PLG 適配器的 UV 多模光纖(長度為 2.3 mm); 190–1350 nm |
基于Pritchard光學(xué)原理的基本伸縮光學(xué)探頭,具有單光圈和集成取景器攝像頭(不含鏡頭和光纖) | |
鏡頭和微距鏡頭 | |
定焦鏡頭 28 mm;F/2,8; 370-1100 nm | |
定焦鏡頭 60 mm;F/2,8; 370-1100 nm | |
| 定焦鏡頭 105 mm; F/4,8; 200–800 nm |
德國Instrument Systems TOP 200 光學(xué)探頭/輻射亮度測量探頭/光譜儀配件
用于輻射和亮度測量的一體化系統(tǒng) DTS140D NVIS 通常包含以下部件:
部件 | 描述 |
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光譜儀 | CAS 140D 光譜范圍為 380-1040 nm 的 CAS 140D153U1I (VIS-NIR)。 |
光學(xué)探頭和鏡頭 | 用于 4 種測量點(diǎn)大小的帶機(jī)動孔徑輪的 TOP 200 光學(xué)探頭,具有 752 x 480 像素分辨率的集成式校準(zhǔn)攝像頭和 HRL90 鏡頭。提供更多焦距選擇。 |
校準(zhǔn) | 光譜輻射和亮度校準(zhǔn),可追溯至國jia標(biāo)準(zhǔn) PTB 或 NIST。包括 MIL 證書。 |
軟件 | SpecWin Pro 實(shí)驗(yàn)室軟件,具有各種功能和特殊 NVIS 評估模塊。 |
雜散光矩陣(可選,不屬于 MIL 測試必需配置) | 雜散光矩陣(可選,不屬于 MIL 測試必需配置) |
輻照度光學(xué)探頭(可選) | 用于依據(jù) SAE ARP5825(外部照明 NVIS 友好型)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測量 |
定位器(可選) | 手動或全自動定位器/測角儀,例如 DTS 500 |
德國Instrument Systems(IS) TOP 200 光學(xué)探頭 輻射亮度測量探頭