產(chǎn)品概述
ZD-JF1A型高壓開關(guān)柜局部放電監(jiān)測裝置通過檢測伴隨局部放電而產(chǎn)生的電磁波輻射并自動確定現(xiàn)場局部放電的實際檢測頻率，隨后將檢測的局部放電的放電次數(shù)和放電頻次上傳至服務(wù)器。
詳細資料
現(xiàn)階段，我國電力系統(tǒng)對于電能的質(zhì)量提出越來越高的要求，不僅要確保供電穩(wěn)定可靠，而且供電的安全性也是重要要求。電力系統(tǒng)中，金屬封閉開關(guān)設(shè)備得到廣泛應(yīng)用，因此開關(guān)柜運行的是否穩(wěn)定可靠是重中之重，電氣設(shè)備在運行的過程中由于受到高溫、電壓、振動以及其他化學(xué)作用，將會使得其絕緣性能降低，會產(chǎn)生局部放電現(xiàn)象，同時又會加速絕緣的惡化情況，會給電力系統(tǒng)造成較大的經(jīng)濟損失。但是，由于開關(guān)柜內(nèi)部空間狹小、零件繁多、結(jié)構(gòu)復(fù)雜，絕緣距離小，因此比其它電力設(shè)備更容易出現(xiàn)絕緣缺陷，從而對設(shè)備安全運行帶來巨大隱患。
高壓電氣設(shè)備的絕緣內(nèi)部如氣泡間隙、雜質(zhì)、尖刺等缺陷，在強電場作用下使得開關(guān)柜絕緣內(nèi)部的電場分布不均勻，在缺陷部位的電場強度會增大，從而容易導(dǎo)致該部位發(fā)生未貫穿整個絕緣的放電，即局部放電。
局部放電一般不會引起開關(guān)柜內(nèi)部絕緣的穿透性擊穿，但是卻會導(dǎo)致絕緣介質(zhì)的局部損壞。若其長期存在，則會在一定條件下造成絕緣裝置電氣強度的破壞，最終造成開關(guān)柜內(nèi)部絕緣擊穿。因而對于電氣設(shè)備而言，電氣設(shè)備發(fā)生局部放電現(xiàn)象是導(dǎo)致其絕緣老化或劣化甚至損壞從而引發(fā)設(shè)備損毀及電力系統(tǒng)事故的重要原因之一，同時局部放電也是設(shè)備絕緣完整性退化的標志。因此對電氣設(shè)備的局部放電進行監(jiān)檢測是評估設(shè)備絕緣狀況的重要手段，也是發(fā)現(xiàn)設(shè)備潛伏性故障，最終實現(xiàn)故障預(yù)警，避免故障發(fā)生的有效措施之一。
高壓電氣設(shè)備的絕緣內(nèi)部如氣泡間隙、雜質(zhì)、尖刺等缺陷，在強電場作用下使得開關(guān)柜絕緣內(nèi)部的電場分布不均勻，在缺陷部位的電場強度會增大，從而容易導(dǎo)致該部位發(fā)生未貫穿整個絕緣的放電，即局部放電。
局部放電一般不會引起開關(guān)柜內(nèi)部絕緣的穿透性擊穿，但是卻會導(dǎo)致絕緣介質(zhì)的局部損壞。若其長期存在，則會在一定條件下造成絕緣裝置電氣強度的破壞，最終造成開關(guān)柜內(nèi)部絕緣擊穿。因而對于電氣設(shè)備而言，電氣設(shè)備發(fā)生局部放電現(xiàn)象是導(dǎo)致其絕緣老化或劣化甚至損壞從而引發(fā)設(shè)備損毀及電力系統(tǒng)事故的重要原因之一，同時局部放電也是設(shè)備絕緣完整性退化的標志。因此對電氣設(shè)備的局部放電進行監(jiān)檢測是評估設(shè)備絕緣狀況的重要手段，也是發(fā)現(xiàn)設(shè)備潛伏性故障，最終實現(xiàn)故障預(yù)警，避免故障發(fā)生的有效措施之一。
