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廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司

日本showadenshi非接觸式玻璃測(cè)厚儀

參考價(jià)10000-200000/臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱秋山科技(東莞)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地東莞市
  • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間2025/5/2 18:13:59
  • 訪問(wèn)次數(shù)1800
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秋山科技(東莞)有限公司是一家專業(yè)從事日本進(jìn)口色選機(jī),碾米機(jī)(胚芽米機(jī)、精米機(jī)),農(nóng)業(yè)用測(cè)定儀器(食味計(jì)、白度計(jì)、水分計(jì)、谷粒判別器),物性測(cè)定儀器,食品分析儀器,質(zhì)構(gòu)儀,流變儀,硬度計(jì),光學(xué)儀器,人工太陽(yáng)能燈等等銷售的科技型公司。秋山科技----世界分選產(chǎn)業(yè)*者,為眾多領(lǐng)域提供適合您的的色選機(jī)而努力。 秋山科技不僅僅是色選機(jī)的專業(yè)銷售商,更是一家色選領(lǐng)域技術(shù)創(chuàng)新的*。秋山科技擁有*的食品色選技術(shù)(高級(jí)異物檢驗(yàn)、生物特性、葉綠素含量、損壞、水分含量、霉菌毒素、異物、小斑點(diǎn)、細(xì)微色差、細(xì)微瑕疵),透明塑料粒子色選技術(shù)(篩選塑料粒子黑點(diǎn)和變色異物、可以篩選的原料及異物舉例PET, PBT, POM, PS, PP, PA, PC, ABS, PBT, PE, PPS, PVA, SAP)。

 

 

 

 

農(nóng)用機(jī)械設(shè)備,質(zhì)構(gòu)儀,食品分析儀器,光學(xué)儀器,人工太陽(yáng)能燈,目視檢查燈,PVB膜測(cè)厚儀
測(cè)量范圍 1 類型 數(shù)字式
日本showadenshi非接觸式玻璃測(cè)厚儀
紅外線穿過(guò)特定的物質(zhì)。
它是一種利用該特性以非接觸方式測(cè)量特定物質(zhì)厚度的技術(shù)。
日本showadenshi非接觸式玻璃測(cè)厚儀 產(chǎn)品信息

日本showadenshi非接觸式玻璃測(cè)厚儀

紅外線穿過(guò)特定的物質(zhì)。
它是一種利用該特性以非接觸方式測(cè)量特定物質(zhì)厚度的技術(shù)。

由于電子設(shè)備中使用的硅、藍(lán)寶石、石英和其他化合物的表面經(jīng)過(guò)高精度拋光,因此不能使用接觸式厚度測(cè)量,因?yàn)樗鼤?huì)劃傷表面。
此外,由于材料變形,無(wú)法通過(guò)接觸式準(zhǔn)確測(cè)量橡膠、薄膜、軟樹(shù)脂等的厚度。

激光和電容是以非接觸方式測(cè)量厚度的常用方法,但它們是位移計(jì),不能測(cè)量絕對(duì)值。絕對(duì)值可以通過(guò)我們的紅外光法測(cè)量。


紅外光測(cè)厚原理

當(dāng)紅外光投射到工件上時(shí),它首先在表面上反射。
此外,紅外光通過(guò)工件內(nèi)部并在背面反射。
表面反射光和背面反射光被光學(xué)探頭接收,利用前后表面反射光的時(shí)間差作為光干涉差來(lái)測(cè)量厚度。

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可以在多層中進(jìn)行單獨(dú)的厚度測(cè)量

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從這個(gè)原理來(lái)看,在如上圖所示的多層工件的情況下,可以從每個(gè)反射光的干涉差來(lái)測(cè)量單個(gè)厚度。


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以上是PC上顯示反射光干涉狀態(tài)的界面。
從波形的左邊看,它變成了R1到R4的干擾波。每個(gè)干涉差(Peak to Peak)是每一層的厚度。


日本showadenshi非接觸式玻璃測(cè)厚儀

絕對(duì)值測(cè)量的優(yōu)點(diǎn)

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《相對(duì)值的測(cè)量》

位移傳感器是一種相對(duì)值測(cè)量,將距離差作為厚度測(cè)量。因此,有必要準(zhǔn)備一個(gè)參考平面(零點(diǎn))。
此外,如果到參考平面的距離 (Gs) 并不總是恒定的,則會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤。如果不能保持或隨時(shí)間變化,則必須為每次測(cè)量重新設(shè)置零點(diǎn)。

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<< 絕對(duì)值測(cè)量 >>

由于紅外光的測(cè)量是通過(guò)從正面和背面反射光的干涉差異獲得的,因此只需將工件放在傳感器頭下方即可測(cè)量厚度的絕對(duì)值。
即使到工件的距離(Ga)有輕微波動(dòng),如果范圍小于最大測(cè)量厚度(約4毫米)-工件厚度(t),測(cè)量值和精度也不會(huì)受到影響。

測(cè)量距離的優(yōu)勢(shì)
為了用位移計(jì)達(dá)到0.1μm的精度,傳感器頭到工件的距離一般必須在10mm以下。
采用這種紅外光方式,測(cè)量距離可以任意設(shè)置,最大可達(dá)1000mm左右,可以保持0.1μm的測(cè)量精度。

* 理論上,測(cè)量精度對(duì)測(cè)量距離沒(méi)有限制,但實(shí)際上由于對(duì)準(zhǔn)調(diào)整困難和光強(qiáng)水平問(wèn)題,穩(wěn)定的測(cè)量距離約為 1000 mm。

發(fā)展成果

華僑城納米

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☆ 如果是允許紅外光通過(guò)的物質(zhì),可以在不使材料變形的情況下測(cè)量厚度。

☆ 可測(cè)量厚度絕對(duì)值

☆ 可進(jìn)行多層測(cè)量

☆ 測(cè)量距離可任意設(shè)置,最大可達(dá)1000mm左右,可保持0.1μm的測(cè)量精度。




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