高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率。
優(yōu)勢
• 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計提供了的時間分辨率。
• 短波長可獲得的缺陷分辨率能力。
• 直徑極小的聲束也可以聚焦。
• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。
應(yīng)用
• 高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。
• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
• 可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。
• 可對陶瓷及高級工程材料進(jìn)行檢測。
• 可對材料進(jìn)行分析。
*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。
高頻接觸式
• 使用直接接觸檢測法時，利用熔融石英延遲塊可進(jìn)行缺陷評價、材料分析或厚度測量。
• 3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。
• 其標(biāo)準(zhǔn)連接器類型為直角Microdot（RM）。
我們備有頻率高達(dá)225 MHz的接觸式探頭。探頭性能取決于所用的脈沖發(fā)生器/接收器以及具體的應(yīng)用。所有探頭的制造都以客戶提出的具體規(guī)格為基準(zhǔn)。請聯(lián)系我們，商議您的具體應(yīng)用。
高頻標(biāo)準(zhǔn)水浸外殼
• 熔融石英延遲塊。
• 聚焦單元使用一個高質(zhì)量的光學(xué)研磨透鏡。
• F202適配器可固定被動UHF連接器和主動Microdot連接器。
• 將高頻率和小外殼設(shè)計的特點(diǎn)結(jié)合在一起。
• 熔融石英延遲塊。
• 聚焦單元使用一個高質(zhì)量的光學(xué)研磨透鏡。
• F202適配器可固定被動UHF連接器和主動Microdot連接器。
• 將高頻率和小外殼設(shè)計的特點(diǎn)結(jié)合在一起。
高頻SU/RM水浸外殼
• 帶有高質(zhì)量的光學(xué)研磨透鏡的熔融石英延遲塊可使聲束的校直及聚焦達(dá)到很高的精度。
• 不銹鋼外殼帶有一個被動平直UHF (SU)連接器和一個主動直角Microdot (RM) 連接器。
• 大外殼可使用較大的延遲塊，并減少延遲塊的回響和噪音。
• 帶有高質(zhì)量的光學(xué)研磨透鏡的熔融石英延遲塊可使聲束的校直及聚焦達(dá)到很高的精度。
• 不銹鋼外殼帶有一個被動平直UHF (SU)連接器和一個主動直角Microdot (RM) 連接器。
• 大外殼可使用較大的延遲塊，并減少延遲塊的回響和噪音。
聚合物（PVDF）水浸式探頭
• 在不使用延遲塊或透鏡的情況下，提供匹配于水的阻抗。
• 不產(chǎn)生會在熔融石英延遲塊設(shè)計結(jié)構(gòu)中出現(xiàn)的延遲塊回波。
• 寬帶性能。
• 不產(chǎn)生會在熔融石英延遲塊設(shè)計結(jié)構(gòu)中出現(xiàn)的延遲塊回波。
• 寬帶性能。
注意：請使用您所選擇的標(biāo)準(zhǔn)聚焦長度替換表中的X.XX"。
由于聚合物探頭本身所具有的寬帶特性，它們的中心頻率可能會比探頭上標(biāo)注的頻率低一些。
注意：聚合物探頭的中心頻率基于聚合物薄膜晶片上膜的厚度。探頭性能極大地取決于脈沖發(fā)生器和線纜的特性，因此，有效中心頻率可能會低于標(biāo)稱值的15%～25%。
由于聚合物探頭本身所具有的寬帶特性，它們的中心頻率可能會比探頭上標(biāo)注的頻率低一些。
注意：聚合物探頭的中心頻率基于聚合物薄膜晶片上膜的厚度。探頭性能極大地取決于脈沖發(fā)生器和線纜的特性，因此，有效中心頻率可能會低于標(biāo)稱值的15%～25%。
