表面粗糙度測量儀SURFTEST SV-3100 系列
定位速度及精度實現(xiàn)了更高效率及高精度表面粗糙度測量
產(chǎn)品特點
 | ◇更短測量時間 驅(qū)動部(X 軸) ：80 mm/s,，立柱(Z2 軸) ：20 mm/s 更快的驅(qū)動速度縮短了測量時間。 自動調(diào)水平工作臺(選配) 即使在復(fù)雜的測量表面，激光粗糙度儀， 也能自動調(diào)整水平，精密粗糙度測試儀， 顯著減少了設(shè)置時間。 |
| ◇消除人為誤差 立柱(Z2 軸) 采用ABS (原點) 的標(biāo)尺 改進的連續(xù)測量功能有效幫助垂直方向上的小孔連續(xù)自動測量或難以定位零件的重復(fù)測量。 如果使用Y 軸工作臺和一個旋轉(zhuǎn)工作臺(選配) 可以實現(xiàn)更多的自動化功能 可選配件Y 軸工作臺可以實現(xiàn)在同一時間自動測量大量的零件或工作臺上不同位置的多個零件。同時添加一個旋轉(zhuǎn)臺可以明顯減少手工工作量。 | |
| ◇高度耐用性 陶瓷導(dǎo)軌 為了確保驅(qū)動部(X 軸) 在很長一段時間內(nèi)保持其直線度， 該測量儀所用陶瓷導(dǎo)軌具有出眾的耐磨損特性并減小隨著使用時間而導(dǎo)致的變形特性。使用陶瓷導(dǎo)軌便于維護， 不再需要使用潤滑油去防止腐蝕。 | |
| ◇SV-3100配有多種參數(shù)。評估型表面粗糙度測量儀同時配置分析功能。 裝置配備FORMTRACEPAK表面粗糙度/輪廓分析程序。 標(biāo)配高分辨率的Z1軸檢出器，粗糙度儀支架，顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。Z1軸的顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。 X軸驅(qū)動裝置裝配高精度玻璃光柵尺，日本三豐 粗糙度儀，實現(xiàn)X軸方向移動的高精準(zhǔn)定位。SV-3100系列為驅(qū)動裝置采用陶瓷導(dǎo)軌以提高抗磨性，手持式粗糙度測試儀，延長使用壽命。 標(biāo)準(zhǔn)或低測力檢出器(4mn/0.75mN)的選擇，粗糙度儀 進口，無需考慮設(shè)備本體是否有裝配傾斜裝置。 | |
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| ◇X/Z2 軸上內(nèi)置了高精度線性編碼器 驅(qū)動部(X 軸) 和立柱(Z2 軸) 都配備了高精度線性編碼器(Z2軸為ABS 型)，粗糙輪廓儀， 結(jié)合垂直和水平方向運動可實現(xiàn)全自動測量。這提高了小孔在垂直方向上 的連續(xù)自動測量和難以定位零件上的連續(xù)測量效率。 | ◇保護操作者，粗糙度測試儀 價格，測量部及工件的安全功能 為了提高高速移動時的安全性，表面粗糙度儀，Z 軸檢測裝置上搭載了安全裝置(碰撞時自動停止功能) 和新的控制盒，這個驅(qū)動速度控制旋鈕可在緊急情況下急速停止操作。 |
| ◇SV-3100驅(qū)動部(X 軸) 具有驅(qū)動傾斜裝置 帶驅(qū)動部(X 軸) 傾斜裝置機型，粗糙度儀檢定規(guī)程，可在測量傾斜后的測量面、改變測量姿勢較困難的重型工件時發(fā)揮威力。 |  |
產(chǎn)品規(guī)格
| 型號 | SV-3100S4 | SV-3100H4 | SV-3100W4 | SV-3100S8 | SV-3100H8 | SV-3100W8 | |
| 測量范圍/分辨力 | Z1軸 | 800μm/0.01μm, 80μm/0.001μm, 8μm/0.0001μm | |||||
| X軸形成范圍 | 100mm | 200mm | |||||
| 驅(qū)動力 | X軸直線度 | (0.05+0.001L)μm (L: 測量長度 (mm)) | 0.5μm/200mm | ||||
| 測量速度 | 0.02, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0, 5.0mm/s | ||||||
| Z2軸（立柱） | 300mm (電動)*1 | 500mm (電動)*1 | 300mm (電動)*1 | 500mm (電動)*1 | |||
| 評價輪廓 | 原始輪廓, 粗糙度輪廓, 波形輪廓, 濾波輪廓, 殘余線輪廓, 滾圓波紋度輪廓 滾圓中心線波紋度輪廓, DIN4776 輪廓, 粗糙度 motif 輪廓, 波形 motif 輪廓 | ||||||
| 評價參數(shù) | Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, PΔq, Pm (rc), Pmr, Pδc, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz, Rt, Rc,RSm, RΔq, Rm (rc), Rmr, Rδc,Wa, Wq,Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, WΔq, Wm (rc), Wmr, Wδc, Rk, Rpk,Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R,Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN, RzDIN, R3y, R3z,S, HSC, Lo, lr, Δa, Ea, Eq, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW | ||||||
| 分析圖表 | ADC, BAC圖, 功率譜圖, 自相關(guān)圖, Walsh功率譜圖, Walsh自相關(guān)圖, 傾斜分布圖, 局部峰值分布圖, 參數(shù)分布圖 | ||||||
| 曲線補償 | 傾斜補償 (全部/前半/下半/端點/任意), R平面補償, 橢圓補償, 拋物線補償, 雙曲線補償, 錐面補償, 多項式補償 | ||||||
| 濾波 | 高斯, 2CR75, 2CR50, 2CRPC75, 2CRPC50,魯棒樣條 | ||||||
| 截止波長 | λs | 0.0008, 0.0025, 0.008, 0.025, 0.08, 0.25, 0.8mm | |||||
| λc | 0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8, 25mm, 任意 (0.025-50mm) | ||||||
| λf | 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8, 25, 80mm, 任意 (0.025-50mm) | ||||||
| λh | 0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm, 任意 (0.025-50mm) | ||||||
| λl | 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8, 25mm, 任意 (0.025-50mm) | ||||||
| 取樣長度 | 0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8, 25mm, 任意 (0.025-50mm) | ||||||
| 記錄放大倍率 | 水平倍率 | 10X - 500,000X, 自動 | |||||
| 垂直倍率 | 0.5X - 10,000X, 自動 | ||||||
| 檢出器 | 檢出方式 | 差動電感方式 | |||||
| 觸針&測刀 | 0.75mN 觸針針尖 (錐): 針尖椎角: 60o, 針尖半徑: 2μm 4mN 觸針針尖 (錐): 針尖椎角: 90o, 針尖半徑: 5μm | ||||||
| 電源 | 測量主體 | 100V 50/60Hz | |||||
| 外形尺寸 （WxDxH) | 測量主體 | 756×482×996mm | 756×482×1166mm | 1156×482×1176mm | 766×482×996mm | 766×482×1166mm | 1166×482×1176mm |
| 重量 | 140kg | 150kg | 220kg | 140kg | 150kg | 220kg | |
