英國泰勒霍普森CCI SunStar非接觸式光學(xué)輪廓儀
無論對分析速度的要求有多高,我們創(chuàng)新的CCI SunStar非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 高分辨率相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合,無論是測量非常粗糙的表面,還是測量極其光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析。
CCI SunStar極大地?cái)U(kuò)展了分析能力,同時(shí)又不至于讓分析程序變得更復(fù)雜。 您可以測量各種各樣的元件和表面,不需要進(jìn)行復(fù)雜的測量模式切換,也不會(huì)給中間透鏡的校準(zhǔn)增加額外的負(fù)擔(dān)。 通過標(biāo)準(zhǔn)化的方法、程序和,CCI SunStar可輕松地整合到您的質(zhì)量管理系統(tǒng)中。
- 2048 x 2048像素陣列,視場廣,高分辨率
- 全量程0.1埃的分辨率
- 輕松測量反射率為0.3% - 99%的各種表面
- 自動(dòng)設(shè)置,避免了操作員之間的操作差異
- 多語言版本的64位控制和分析軟件