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三維表面測(cè)量?jī)x輪廓儀臺(tái)階儀（納米級(jí)）

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公司名稱上海玖析科學(xué)儀器有限公司
品牌
型號(hào)NanoFocus2
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2022/12/7 14:51:26
訪問(wèn)次數(shù)475

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上海玖析科學(xué)儀器有限公司是一家專業(yè)從事實(shí)驗(yàn)室基礎(chǔ)科學(xué)儀器、理化儀器、分析儀器、環(huán)保儀器、測(cè)量?jī)x器和耗材供應(yīng)商，致力于為廣大科研機(jī)構(gòu)、大專院校以及企事業(yè)單位客戶提供各種上等的實(shí)驗(yàn)室儀器、設(shè)備以及試劑、耗材等產(chǎn)品。公司多名員工具有十幾年行業(yè)內(nèi)產(chǎn)品銷售和技術(shù)服務(wù)經(jīng)驗(yàn)，能夠?qū)蛻舻男枨笞龀?快速的反應(yīng)，并給出*合理的解決方案！公司代理經(jīng)銷的產(chǎn)品都是通過(guò)多年銷售服務(wù)經(jīng)驗(yàn)，精選市場(chǎng)上被客戶廣泛認(rèn)可、具有高性價(jià)比的產(chǎn)品；并與產(chǎn)品廠家建立了良好的合作關(guān)系，保證產(chǎn)品的服務(wù)，讓客戶無(wú)后顧之憂。公司代理經(jīng)銷眾多品牌產(chǎn)品：美國(guó)HACH、美國(guó)CLEAN、美國(guó)CORNING、HANNA、奧林巴斯、日本島津、Brookfield、IKA、Kimble、美國(guó)Qorpak等等公司與眾多中國(guó)臺(tái)灣儀器廠商建立了長(zhǎng)期的合作關(guān)系，為其中國(guó)地區(qū)客戶提供產(chǎn)品咨詢銷售、技術(shù)支持和服務(wù)。中國(guó)臺(tái)灣Newlab、新光精機(jī)Shin Kwang、祥泰、玖慧等。

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三維表面測(cè)量?jī)x輪廓儀臺(tái)階儀（納米級(jí)）NanoFocus2000是用于表面結(jié)構(gòu)測(cè)量和表面形貌分析的一款檢測(cè)設(shè)備,測(cè)量精度重復(fù)性達(dá)到世界較高水平;關(guān)鍵硬件采用美國(guó)、德國(guó)、日本等;配備進(jìn)口第三方校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件高性價(jià)比微觀形貌測(cè)量設(shè)備;迅捷、高效的上等售后服務(wù)

三維表面測(cè)量?jī)x輪廓儀臺(tái)階儀（納米級(jí)）產(chǎn)品信息

三維表面形貌儀采用了上等光學(xué)系統(tǒng),可通過(guò)非破壞觀察法生產(chǎn)高畫(huà)質(zhì)的圖像并進(jìn)行**的3D測(cè)量,可以滿足不同樣品的觀測(cè)需求

三維表面測(cè)量?jī)x輪廓儀臺(tái)階儀(納米級(jí))NanoFocus2000是用于表面結(jié)構(gòu)測(cè)量和表面形貌分析的一款檢測(cè)設(shè)備

采用垂直掃描白光干涉和移相干涉技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面粗糙度、臺(tái)階高度、關(guān)鍵部位的尺寸及其形貌特征的納米級(jí)三維精密測(cè)量。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工藝、航空航天、太陽(yáng)能電池工藝、材料表面工程、MEMS、超精密加工等領(lǐng)域。

三維表面測(cè)量?jī)x輪廓儀臺(tái)階儀(納米級(jí))NanoFocus2000產(chǎn)品特點(diǎn)：

測(cè)量精度重復(fù)性達(dá)到世界較高水平

關(guān)鍵硬件采用美國(guó)、德國(guó)、日本等

配備進(jìn)口第三方校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件

高性價(jià)比微觀形貌測(cè)量設(shè)備

迅捷、高效的上等售后服務(wù)

覆蓋范圍廣

兼容多種測(cè)量和觀察需求

保護(hù)性

非接觸式光學(xué)干涉測(cè)量

可操作性

“一鍵式”操作更簡(jiǎn)單、高效

智能化

特殊形狀智能計(jì)算特征參數(shù)

個(gè)性化

定制化測(cè)試報(bào)告

NanoFocus2000三維表面微觀形貌檢測(cè)儀主要由精密載物臺(tái)、照明系統(tǒng)、光學(xué)干涉成像系統(tǒng)、實(shí)現(xiàn)移相運(yùn)動(dòng)的微位移系統(tǒng)、圖像采集系統(tǒng)及圖像數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等組成。整個(gè)檢測(cè)儀放置在氣浮抗振平臺(tái)上。載物臺(tái)用于安放被測(cè)件，同時(shí)通過(guò)傾斜和XY二維平移調(diào)整使被測(cè)面**定位于感興趣的區(qū)域；光源及照明系統(tǒng)提供給被測(cè)面均勻又充分的反射式照明；干涉成像系統(tǒng)采用Mirau干涉物鏡結(jié)構(gòu)獲取被測(cè)表面干涉圖像；采用壓電陶瓷傳感器（PZT）實(shí)現(xiàn)微位移控制；通過(guò)CCD與自主開(kāi)發(fā)的軟件系統(tǒng)采集并處理干涉圖像，獲得被測(cè)面的相位信息進(jìn)而得到表面輪廓。