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冷熱沖擊測試的設(shè)備冷熱沖擊試驗箱

參考價	￥ 51800
訂貨量	≥1臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱東莞市柳沁檢測儀器有限公司
品牌柳沁
型號LQ-TS-80
所在地東莞市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時間2023/12/13 18:34:13
訪問次數(shù)1105

產(chǎn)品標簽:

芯片測試高低溫沖擊儀快速高低溫沖擊試驗箱非標高低溫沖擊箱冷熱沖擊箱模擬冷熱沖擊實驗箱

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公司介紹主營產(chǎn)品

東莞市柳沁檢測儀器有限公司致力于成為行業(yè)當(dāng)先的環(huán)境測試解決方案供應(yīng)商。一直以來我們圍繞客戶的需求潛心研發(fā)，持續(xù)創(chuàng)新，生產(chǎn)的儀器設(shè)備廣泛用于航空﹑電子電工﹑光電、玩具、紙品、五金、半導(dǎo)體、汽車、塑膠模具、電池、LED燈、服裝鞋業(yè)、芯片、染料、涂料、塑料、油漆、光纖電纜、平板電腦、安防產(chǎn)品、顯示屏、通信、機械、實驗室、高校、質(zhì)檢機構(gòu)等各種行業(yè)。目前主要研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品有：高低溫試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、快速溫變試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、高溫老化房、紫外線老化試驗箱、鹽水噴霧試驗箱、跌落試驗機、電磁振動臺、氙燈老化試驗箱、淋雨試驗箱、砂塵試驗箱等各類環(huán)境試驗設(shè)備。柳沁科技有強大的技術(shù)研發(fā)能力、先進的加工生產(chǎn)設(shè)備、嚴格的管理體系，設(shè)備主要零部件采用歐美、日本等地的產(chǎn)品，為客戶提供優(yōu)質(zhì)、耐用的檢測設(shè)備。公司建立從售前到售后完善的服務(wù)體系，為客戶提供專業(yè)放心的服務(wù)，給予客戶更多產(chǎn)品之外的附加價值！

微信圖片_20240227085751.jpg

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高低溫試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、紫外線老化試驗箱、氙燈老化箱、步入式試驗室、快速溫變箱、鹽霧試驗箱等等

產(chǎn)品簡介在線詢價

產(chǎn)地	國產(chǎn)	內(nèi)尺寸	400500400

冷熱沖擊測試的設(shè)備適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、、航天等制品檢測質(zhì)量之用。有瞬間從高溫沖到低溫或者從低溫瞬間沖擊到高溫的試驗功能。適用于所有工業(yè)材料、工業(yè)產(chǎn)品的成品或者半成品。

冷熱沖擊測試的設(shè)備冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品信息

冷熱沖擊測試的設(shè)備適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、、航天等制品檢測質(zhì)量之用。有瞬間從高溫沖到低溫或者從低溫瞬間沖擊到高溫的試驗功能。適用于所有工業(yè)材料、工業(yè)產(chǎn)品的成品或者半成品。

的技術(shù)參數(shù)：

冷熱沖擊測試的設(shè)備的性能參數(shù)參考如下：

一、低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（廠家還免費配高溫至150度）。

二、溫度偏差：±2℃。

三、溫度波動度：±0.5℃。

四、溫度恢復(fù)時間：≤5min。

五、溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。

六、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式：采用氣動驅(qū)動。

七、高溫室儲溫的升溫時間：30min (+25℃～+200℃)。

八、低溫室儲溫的降溫時間：65min (+25℃～-75℃)。

九、低溫沖擊試驗機|低溫沖擊機|沖擊試驗機工作時的噪音：（dB）≤65( 標準規(guī)定≤65分貝不算噪音）

十、型號內(nèi)箱尺寸（mm) 外箱尺寸（mm）功率（kw)

LQ-TS-49 W360×H350×D400 W1550×H1730×D1440 18.5

LQ-TS-80 W500×H400×D400 W1650×H1830×D1500 23.0

LQ-TS-150 W600×H500×D500 W1750×H1930×D1570 28.0

LQ-TS-225 W500×H750×D600 W1450×H2100×D1670 34.0

LQ-TS-408 W750×H800×D800 W1550×H2150×D1900 42.0

本設(shè)備滿足	GBT 2423.1-2008	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫
	GBT 2423.2-2008	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
	GBT 2423.4-2008	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：濕熱循環(huán).
	GBT 2423-3-2006	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗恒定濕熱
	GBT 10592-1989	高低溫試驗箱技術(shù)條件
	SJT 31391—1994	恒溫試驗箱完好要求和檢查評定方法