硅片芯片厚度測(cè)量?jī)x

CHY-CA薄膜測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量原理，嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)方法進(jìn)行測(cè)量，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

產(chǎn)品特點(diǎn)

◎ 微電腦控制系統(tǒng)，大液晶顯示、PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看。

◎ 嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制。

◎ 測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差。

◎ 支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式，方便用戶自由選擇。

◎ 系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)樣，進(jìn)樣步距、測(cè)量點(diǎn)數(shù)和進(jìn)樣速度等相關(guān)參數(shù)均可由用戶自行設(shè)定。

◎ 實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的Z大值、Z小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷。

◎ 配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性。

◎ 系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果。

◎ 標(biāo)準(zhǔn)的USB接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)。

硅片芯片厚度測(cè)量?jī)x

測(cè)試原理

CHY-CA薄膜測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量原理，截取一定尺寸的式樣；通過(guò)控制面板按鈕，調(diào)節(jié)測(cè)量頭降落于式樣之上；依靠?jī)蓚€(gè)接觸面產(chǎn)生的壓力和兩接觸面積通過(guò)傳感器測(cè)得的數(shù)值測(cè)量材料的厚度。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

該儀器符合多項(xiàng)國(guó)家和國(guó)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。

售后服務(wù)承諾

三月內(nèi)只換不修，一年質(zhì)保，終身提供?？焖偬幚?，1小時(shí)內(nèi)響應(yīng)問題，1個(gè)工作日出解決方案。

體系榮譽(yù)資質(zhì)

ISO9001：2008質(zhì)量體系認(rèn)證、計(jì)量合格確認(rèn)證書、CE認(rèn)證、軟件著作權(quán)、產(chǎn)品實(shí)用新型、外觀設(shè)計(jì)。

實(shí)力鑄造品牌

三大研發(fā)中心，兩條獨(dú)立生產(chǎn)線，一個(gè)綜合體驗(yàn)式實(shí)驗(yàn)室。賽成自2007年創(chuàng)立至今，用戶累計(jì)成交產(chǎn)品破萬(wàn)臺(tái)，完善四大產(chǎn)品體系，50多種產(chǎn)品。