一、特點(diǎn)：
1.采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，
根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。
2.無約束擬合反演即測(cè)試前對(duì)顆粒群不做任何假設(shè)，通過光強(qiáng)直接準(zhǔn)確地計(jì)算出顆粒群的粒度分布。
這種計(jì)算前提是合理的探測(cè)器設(shè)計(jì)和粒度分級(jí)，給設(shè)備本身提出很高的要求。
二、技術(shù)參數(shù)：
1.測(cè)量范圍：0.1～1200微米
2.準(zhǔn)確性誤差：〈±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）
3.重復(fù)性偏差：〈±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）
4.電氣要求：交流220±10V，50Hz, 200W
5.外觀尺寸：主機(jī)1000×330×300mm 干法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm
6.重量：40KG
