表面的彎曲、傾斜、粗糙程度與波紋度相互影響，對于需要同時測量尺寸、形狀與表 面粗糙度的場合，便攜式表面粗糙度輪廓測量儀FTS Intra提供了一次性測量的解決方法。 通過測針在測量表面上的一次測量，來評估這些元素。
承續(xù)了泰勒霍普森產(chǎn)品家族里的優(yōu)良品質(zhì)，
便攜式表面粗糙度輪廓測量儀 FTS Intra 仿佛一位 優(yōu)良的表面測量工程師，在任何你需要的場合， 給您提供好的支持。
簡單便攜
FTS Intra 既可以通過 PDA 控制處理器攜帶到 任何工作場合去工作，控制分析單元對驅(qū)動單元可 連線控制，也可紅外遙控；也可以通過與電腦的對 接，測量的數(shù)據(jù)直接傳輸至計算機，由 Ultra 軟件 對儀器進行控制及對測量數(shù)據(jù)的分析。作為標(biāo)準(zhǔn)計 量室內(nèi)的檢測設(shè)備。
我們可以非常容易地把它從計量室?guī)У焦ぷ鞯?點，即使是臨時的操作員也可以非常簡單地進行操 作，并得到**的測量結(jié)果。當(dāng)然，由于上乘的設(shè) 計，簡而易行的操作，您幾乎不用妨礙到生產(chǎn)的進 度，就可以非常上乘地完成這些您所需要的表面形 狀與粗糙度的檢測。
評定參數(shù)
(1) 粗糙度參數(shù)： Ra、Rq、Rp、Rv、Rt、Rsk、Rku、Rz、Rz(JIS)、Rpm、R3y、R3z、RS、RSm、Rdela、 Rlamq、RDelq、Rvo、RPc、RHSC、Rmr、Rdc
(2) 波紋度參數(shù)： Wa、Wq、Wp、Wv、Wt、Wsk、Wku、Wz、WLamq、WDelq、WDela、WS、WSrm、 Ln、Wc、Wlo、WVo、WPc、WHSC、Wmr、Wdc
(3) 未濾波參數(shù)： Pa、Pq、Pv、Pt、Psk、Pp、Pku、Pz(JIS)、PLamq、PDelq、PS、PSm、Pz、Pdela、 Ln、PLo、Pc、PVo、PPc、PHSC、Pmr、Pdc
(4) Rk 參數(shù)： Rk、Mrl、Mr2、Rpk、Rvk、A1、A2
(5) 輪廓功能： 半徑和角度 Slope(指被測直線與水平測量基準(zhǔn)的夾角)
選擇合適的產(chǎn)品
簡單的粗糙度的測量（如 Ra 等），可以通過泰勒霍普森家族產(chǎn)品系 列
的Surtronic 系列來檢測。如果您需要更*的分析，更高的測量及分 析水平與操作的靈活性，F(xiàn)TS Intra 是上乘且經(jīng)濟的選擇。
如果您需要更上等別的產(chǎn)品，請參考我公司表面粗糙度輪廓測量儀 系列之 FTSS 與 PGI 產(chǎn)品。
