環(huán)保在線>產(chǎn)品庫>分析儀器-熱搜分類>其它分析儀器>其它>>exfo光損耗測(cè)試設(shè)備功率計(jì) 光測(cè)儀光源

exfo光損耗測(cè)試設(shè)備功率計(jì) 光測(cè)儀光源

參考價(jià)	￥ 60000
訂貨量	≥100臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱深圳九州工業(yè)品有限公司
品牌
型號(hào)FOT-300
所在地深圳市
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時(shí)間2023/4/15 16:06:58
訪問次數(shù)791

產(chǎn)品標(biāo)簽:

光損耗測(cè)試設(shè)備功率計(jì)光測(cè)儀光源 LCD 顯示屏簡易設(shè)定

在線詢價(jià)收藏產(chǎn)品進(jìn)入展商展臺(tái)

聯(lián)系方式：魚蛋小姐15766191432查看聯(lián)系方式

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是環(huán)保在線上看到的信息，謝謝!

索取相關(guān)資料

公司介紹主營產(chǎn)品

深圳九州工業(yè)品有限公司，坐落于深圳市，是一家工業(yè)品綜合服務(wù)商。主要包括機(jī)電設(shè)備、電子產(chǎn)品、儀器儀表、工業(yè)器材的銷售及其它國內(nèi)貿(mào)易、經(jīng)營進(jìn)出口等業(yè)務(wù)。搭建工業(yè)品供應(yīng)鏈，采用與 MRO分銷商結(jié)盟的方式，把零散采購訂單集中處理，流程簡化，提供一站式供應(yīng)服務(wù)。在美國、德國、日本、韓國、中國臺(tái)灣建專業(yè)國際采購團(tuán)隊(duì)、技術(shù)顧問、銷售團(tuán)隊(duì)為各種領(lǐng)域提供各類高品質(zhì)的工業(yè)產(chǎn)品和優(yōu)質(zhì)的整合服務(wù)。通過與廠家建立快捷、有效的溝通，和眾多國外生產(chǎn)廠家建立了長久合作伙伴關(guān)系。

展開顯示更多內(nèi)容

設(shè)備

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

產(chǎn)地	國產(chǎn)

exfo光損耗測(cè)試設(shè)備功率計(jì) 光測(cè)儀光源FOT-300的介紹
FOT-300是優(yōu)化程度非常高的OLTS，結(jié)合了光源端口和功率計(jì)功能，并且在一個(gè)端口上集成了最多3個(gè)單模光源或2個(gè)多模光源，可以使用波長識(shí)別數(shù)字加密協(xié)議進(jìn)行傳輸，從而允許任何兼容設(shè)備（如FPM-300或另一臺(tái)FOT-300光損耗測(cè)試設(shè)備）自動(dòng)使用適宜的校準(zhǔn)參數(shù)。利用這項(xiàng)功能，就可以減少兩名技術(shù)人員之間所需的通信量，從而降低出錯(cuò)的幾率

exfo光損耗測(cè)試設(shè)備功率計(jì) 光測(cè)儀光源產(chǎn)品信息

exfo光損耗測(cè)試設(shè)備功率計(jì) 光測(cè)儀光源FOT-300的介紹

描述

FOT-300是優(yōu)化程度非常高的OLTS，結(jié)合了光源端口和功率計(jì)功能，并且在一個(gè)端口上集成了最多3個(gè)單模光源或2個(gè)多模光源，可以使用波長識(shí)別數(shù)字加密協(xié)議進(jìn)行傳輸，從而允許任何兼容設(shè)備（如FPM-300或另一臺(tái)FOT-300光損耗測(cè)試設(shè)備）自動(dòng)使用適宜的校準(zhǔn)參數(shù)。利用這項(xiàng)功能，就可以減少兩名技術(shù)人員之間所需的通信量，從而降低出錯(cuò)的幾率。

FTTx測(cè)試解決方案

該產(chǎn)品是EXFO的FTTx光纖測(cè)試系列產(chǎn)品中的一員，能夠以光纖到戶（FTTH）和光纖到駐地（FTTP）網(wǎng)絡(luò)中使用的三種主要波長（1310 nm、1490 nm和1550 nm），依據(jù)ITU-T G.983和G.984系列建議及IEEE 802.3ah標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)無源光網(wǎng)絡(luò)（PON）進(jìn)行測(cè)試。

遠(yuǎn)距離參考

利用信號(hào)加密，接收端便能夠獲得將用作參考的功率的相關(guān)信息，從而幫助確保高效地進(jìn)行參考，即使兩臺(tái)設(shè)備距離非常遠(yuǎn)也能輕松應(yīng)對(duì)。

無需偏移歸零

FOT-300光損耗測(cè)試設(shè)備憑借其新穎的設(shè)計(jì)，消除了對(duì)偏移歸零的需求，從而縮短了在典型測(cè)試環(huán)境中的測(cè)量時(shí)間。