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該儀器適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

u 主要性能指標

※ 波長范圍及峰值波長：

UV－340探頭：λ：(315～370)nm；λP＝340nm

※ 輻照度測量范圍：

(～×103)μW/cm2

※ 紫外帶外區(qū)雜光：

UV340：小于％

※ 余弦特性：

符合國家二級光照度標準

※ 示值相對誤差：

±10％

※ 響應時間：

1秒

※ 使用環(huán)境：

溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH

※ 尺寸和重量：

180mm×80mm×36mm；

※ 電源：

9V積層電池（6F22型）一只