XRF熒光光譜儀薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品
奧富森提供的XRF薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品綜合了多種高真空鍍膜技術(shù)進(jìn)行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩(wěn)定等優(yōu)點(diǎn)，元素純度可達(dá)99.9%以上；同時(shí)綜合ICP和XRF等檢測(cè)技術(shù)，可精確標(biāo)定薄膜標(biāo)樣的負(fù)載量。
《HJ 830-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機(jī)元素的測(cè)定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機(jī)元素的測(cè)定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標(biāo)樣建立儀器的工作曲線。
XRF薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五個(gè)負(fù)載量系列，其他負(fù)載量的產(chǎn)品可根據(jù)客戶實(shí)際需求定制。
可供應(yīng)的XRF薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素如下（可在表格內(nèi)打√選擇樣品）：
元素
SL
VL
L
R
H
元素
SL
VL
L
R
H
Na (NaCl)
Co
Mg (MgF2)
Ni
Al
Cu
Si (SiO2)
Zn (ZnTe)
P (GaP)
As (GaAs)
S (CuSx)
Se
Cl (NaCl)
Sr (SrF2)
K (KCl)
Br (CsBr)
Ca (CaF2)
Cd (CdSe)
Sc (ScF3)
Ba (BaF2)
Ti
Pb
V
Sn
Cr
Sb
Mn
In
Fe
Mo
Ag
Hg (HgTe)
可提供超純鋁杯用于XRF測(cè)定大氣顆粒物的輔助設(shè)備，用以消除或減小合金材料樣品杯對(duì)樣品結(jié)果的影響；采用標(biāo)準(zhǔn)樣品研究所提供的湖南重金屬污染標(biāo)準(zhǔn)土壤樣品，參考NIST 2783標(biāo)樣制備方式研制成功混合元素薄膜樣品，可用于XRF分析方法的驗(yàn)證以及XRF實(shí)驗(yàn)室日常質(zhì)控工作。
XRF薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品的安裝形式：
1、 安裝環(huán)尺寸（厚度為1.5mm的亞克力玻璃）
圓形：
代碼
外徑(mm)
內(nèi)徑(mm)
25
25
17
32
32
25
36
36
29
47
47
39
推薦36號(hào)尺寸。
方形：
50x50mm方形尺寸，內(nèi)置?32mm的圓環(huán)，代碼50。
2、 支撐膜材料
代碼
支撐膜材料
備注
N
Nuclepore® polycarbonate
氣溶膠多孔膜
M6.3
6.3μm厚度麥拉膜(Mylar)
M3.5
3.5μm厚度麥拉膜(Mylar)
推薦M6.3型材料。
3、 鍍膜方式：
代碼
鍍膜位置排列
A
安裝環(huán)-元素膜-支撐膜
B
元素膜-支撐膜-安裝環(huán)
XRF熒光光譜儀薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品
