分析方法能量色散X熒光分析方法 測(cè)量元素范圍鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測(cè)量 同時(shí)檢測(cè)元素數(shù)幾十種元素可同時(shí)分析 處理器和內(nèi)存CPU：667MHz,內(nèi)存：256M，擴(kuò)展存儲(chǔ)支持32G，標(biāo)配2G，可以海量存儲(chǔ)數(shù)據(jù) 含量范圍ppm～99.99% 檢測(cè)時(shí)間3-30秒 GPS、WIFI內(nèi)置系統(tǒng) 檢測(cè)對(duì)象固體、液體、粉末 探測(cè)器25mm2 0.3mil，SDD探測(cè)器 探測(cè)器分辨率可達(dá)139eV 激發(fā)源40KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源 視頻系統(tǒng)高清晰攝像頭 顯示屏半透半反式液晶顯示觸摸屏，其分辨率是640*480 檢出限檢出限達(dá)ppm級(jí) 安全性自帶密碼管理員模式，數(shù)據(jù)可隨意保存 可充氣系統(tǒng)常壓充氦氣系統(tǒng) 數(shù)據(jù)傳輸數(shù)字多道技術(shù)，SPI數(shù)據(jù)傳輸，分析，高計(jì)數(shù)率 操作環(huán)境濕度≤90% 儀器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W） 儀器重量1.9Kg（配備電池），1.6Kg（無(wú)電池）
手持式合金分析儀 應(yīng)用領(lǐng)域◆廢舊金屬回收◆PMI鑒別◆生產(chǎn)制造QA/QC控制◆流體加速腐蝕◆貴金屬分析 產(chǎn)品特點(diǎn) 性能 精度高，接近實(shí)驗(yàn)室級(jí)的分析水平，可直觀顯示合號(hào)和元素百分比含量（某些元素可顯示到小數(shù)點(diǎn)后三位）及ppm含量 速度快，操作簡(jiǎn)單 “開(kāi)機(jī)啟動(dòng)—瞄準(zhǔn)測(cè)試—察看結(jié)果”，整個(gè)分析過(guò)程僅需數(shù)秒便可完成，合號(hào)鑒別只需1~2秒鐘，操作簡(jiǎn)單，即使非技術(shù)人員也可輕松掌握。手持合金光譜儀可分析黑色金屬、有色金屬、合金的化學(xué)成分，能幫助客戶在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、防范、事故調(diào)查等現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用領(lǐng)域中，進(jìn)行合號(hào)鑒別、金屬成分分析，獲得準(zhǔn)確、可靠的分析檢測(cè)結(jié)果。 現(xiàn)場(chǎng)無(wú)損檢測(cè)。擁有廣泛、可自定義牌號(hào)庫(kù)，保證合金鑒別。
合金材料分析 目前在合金材料檢測(cè)領(lǐng)域，它主要用于、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定，是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和制造領(lǐng)域的成份鑒定工具。 重金屬檢測(cè) 除了傳統(tǒng)的合金材料檢測(cè)，貴金屬，RoHs合規(guī)篩查，礦石分析，手持式XRF儀器同樣在地質(zhì)勘探和環(huán)境評(píng)估中發(fā)揮著重要的作用，通過(guò)分析土壤中的重金屬元素，可以知道整個(gè)區(qū)域的礦產(chǎn)分布和污染分布。 其他領(lǐng)域 XRF技術(shù)還可以用于一些新的領(lǐng)域，比如風(fēng)電和汽車領(lǐng)域，通過(guò)對(duì)油品中金屬元素含量進(jìn)行檢測(cè)，可以間接反映軸承的磨損情況。還有許多新的XRF應(yīng)用領(lǐng)域正在被開(kāi)發(fā)出來(lái)，使得XRF技術(shù)在各個(gè)行業(yè)領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。比如工廠的生產(chǎn)制造環(huán)節(jié)的焊接質(zhì)量控制，也會(huì)用到XRF合金分析儀。
手持式光譜儀器具有小巧便攜、操作快捷,體積很小，便攜、方便野外工作，隨時(shí)隨地，隨心所欲的現(xiàn)場(chǎng)分析和原位分析，設(shè)備無(wú)需預(yù)熱，可直接測(cè)試。 手持式xrf熒光光譜儀的特點(diǎn)是無(wú)損、檢測(cè).手持合金測(cè)試儀既可手持1-2秒對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試，也能使用座式對(duì)樣品進(jìn)行較長(zhǎng)時(shí)間的精細(xì)測(cè)試，10秒即可進(jìn)行接近實(shí)驗(yàn)室精度的測(cè)量，整個(gè)檢測(cè)過(guò)程被測(cè)樣品無(wú)任何損壞。高清攝像頭檢測(cè)更加 內(nèi)置500萬(wàn)高清晰攝像頭，可以隨時(shí)觀察被測(cè)樣品的測(cè)試位置。
技術(shù)參數(shù)： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激發(fā)源： X射線管，Ag靶，40kV 檢測(cè)器： SI-PIN檢測(cè)器 操作系統(tǒng)：HP掌上電腦：Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統(tǒng)：Peltier 半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng) 電源： 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件：溫度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 濕度：0～95%
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來(lái)源有： (1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不相同時(shí)，可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。 (2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過(guò)退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過(guò)程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對(duì)結(jié)果。
