簡介 ：

Sigma 系列產品

用于高品質成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡

靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能

將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。

Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有**的背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。

用于清晰成像的靈活探測

l  利用探測術為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。

l  利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。

l  利用新一代的二次探測器，獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測器，在低真空環(huán)境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。

Sigma 的 4 步工作流程節(jié)省大量的時間

自動化加速工作流程

l  4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中，從快速成像和節(jié)省培訓首先，先對樣品進行導航，然后設置成像條件。

l  首先，先對樣品進行導航，然后設置成像條件。

l  接下來對樣品感興趣的區(qū)域進行優(yōu)化并自動采集圖像。**使用工作流程的**一步，將結果可視化。

使用**的 EDS 幾何探測器加速 X 射線分析

高級分析型顯微鏡

l  將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合：Sigma **的背散射幾何探測器大大提升了分析性能，特別是對電子束敏感的樣品。

l  在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數據。

l  獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結果。

基于成熟的 Gemini 技術

l  Gemini 鏡頭的設計結合考慮了電場與磁場對光學性能的影響，并將場對樣品的影響降至更低。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果。

l  Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率，通過二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時減少成像時間。

l  Gemini 電子束加速器技術確保了小的探測器尺寸和高的信噪比。

可視化及分析軟件

蔡司推薦您使用Object Research Systems (ORS) 的 Dragonfly Pro

此解決方案可為X射線，F(xiàn)IB-SEM，SEM以及氦離子顯微鏡獲取的三維數據進行可視化三維重構和分析。

基于Visual SI Advanced系列, Dragonfly Pro 能提供高清解析度可視化技術和優(yōu)異的圖形處理技術。Dragonfly Pro支持通過簡單易用的Python腳本進行定制。用戶可以掌控3D數據后期處理環(huán)境和流程