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廣電計量檢測集團股份有限公司

JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱上海百賀儀器科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號JEM-F200
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
  • 更新時間2024/2/17 16:34:16
  • 訪問次數(shù)284
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上海百賀儀器科技有限公司由上海佰衡儀器科技有限公司組建而來。多年來佰衡儀器精心研發(fā)制造各種試驗機、試驗箱及非標準設備,服務于全國各大企業(yè)院所,是一家技術型的生產(chǎn)廠家。為了更好服務客戶,滿足用戶一站式的采購需求,上海百賀儀器順勢而生,并與國內(nèi)外多家優(yōu)秀儀器供應商*保持良好穩(wěn)定的合作關系,能夠在產(chǎn)品價格、技術服務、儀器維修、配件供給、軟件升級等方面得到更多的支持,讓客戶獲取更多的增值服務。
      
上海百賀儀器科技有限公司秉承‘佰衡儀器’的經(jīng)營理念,一直致力于提升中國實驗室檢測水平,作為專業(yè)化的儀器公司,我們能為您提供更全面、更優(yōu)質(zhì)、更專業(yè)的實驗室解決方案。百賀儀器的產(chǎn)品及服務涉及金屬、橡膠、塑料、石油、建筑材料、汽車、電子、電工、家電、醫(yī)療、包裝印刷等諸多領域,享譽八方。
百賀儀器堅持“客戶*,服務*”的服務理念,崇尚“誠信、奉獻、共贏”的企業(yè)價值觀,勵精圖治,開拓進取。公司由一支充滿活力的高素質(zhì)開拓型團隊組成,技術過硬,經(jīng)驗豐富,可以滿足不同客戶的需求,為客戶提供周到、熱情、滿意的服務。不論是售前還是售后服務,百賀儀器都力求嚴謹、及時、全面;換位思考,仔細傾聽,做客戶忠實的顧問式伙伴。
 
百賀儀器的承諾:*的品質(zhì),專業(yè)的服務。
百賀儀器的目標:您Z貼心的實驗儀器供應商。
顯微鏡,拉力試驗機,硬度計,高低溫試驗箱,磨拋機,切割機,玻璃紙
JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗.
JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡 產(chǎn)品信息
  • 以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。

  • 外觀設計精煉
  • 精煉的外型,全新的視覺感受。
    為分析型電鏡全新設計的GUI,使操作更加直觀方便。
    JEOL長年積累的豐富經(jīng)驗在設計上得到了充分的體現(xiàn),與舊機型相比,電鏡的機械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的提高。

  • 四級聚光鏡系統(tǒng)
  • 現(xiàn)在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術--- 從明場/暗場的TEM成像到使用各種檢測器的STEM技術。 該設備采用新型四級聚光鏡照射光學系統(tǒng)-“Quad-Lens condenser system”,通過分別控制電子束強度和匯聚角,能滿足各種研究的需求。
  • 掃描系統(tǒng)
  • JEM-F200可以實現(xiàn)大視野的STEM-EELS分析,該設備在常規(guī)的照明系統(tǒng)的電子束掃描功能之上,增加了新的掃描系統(tǒng)-“Advanced Scan System” 即成像系統(tǒng)的電子束掃描功能(選配)。
  • 皮米樣品臺驅動
  • JEM-F200 采用能以皮米級步長移動樣品臺的Pico stage drive(不用壓電驅動),能在寬動態(tài)范圍移動視野-從樣品的整個柵網(wǎng)視野移動到原子級圖像視野移動都能進行。
  • SpecPorter(自動插入和拔出樣品桿的裝置)
  • 插入和拔出樣品桿,對電鏡初學者來說一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter,即使新手也能輕松掌握,將樣品桿安裝在的位置上,只用一個按鈕即能安全地插入或拔出。
  • 改進的冷場發(fā)射電子槍
  • JEM-F200能安裝高穩(wěn)定性、高亮度和高能量分辨率的冷場發(fā)射電子槍(選配),該槍的利用可以進行EELS化學結合狀態(tài)分析,高亮度的電子束縮短了分析時間,并且還降低了來自光源的色差,實現(xiàn)了高分辨率的觀察。
  • 雙能譜(SDD)
  • JEM-F200能同時安裝兩個大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器(SDD)(選配件)。 憑借更高的靈敏度,EDS分析速度更快,對樣品的損傷更小。
  • 環(huán)保節(jié)能
  • JEM-F200是個標配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統(tǒng)能將能源消耗降低到正常模式時的1/5,可以在裝置不運行時,以最小的能耗保持著電鏡的條件。該設備具有排程功能,能在的時間將電鏡從ECO模式恢復到工作狀態(tài)。
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