NTEGRA SPECTRA
納米領域的跨學科研究：AFM +共聚焦拉曼+ SNOM + TERS
SPM和共聚焦顯微鏡/拉曼散射光譜儀的集成。由于增強了拉曼散射，因此可以以高達10 nm的分辨率進行光譜/顯微鏡
技術指標
NTEGRA Spectra-AFM /共聚焦拉曼與熒光/ SNOM / TERS（納米拉曼）集成：新科學的關鍵
界面發(fā)生變化，當今顯微鏡領域最激動人心的變化發(fā)生在將多種技術連接在一起的地方。NTEGRA Spectra是一個很好的例子，它將原子力顯微鏡（AFM），共焦拉曼和熒光顯微鏡的全功能結合在一起，并將掃描近場光學顯微鏡（SNOM）集成在一個平臺上.AFM與共焦拉曼/熒光顯微鏡的不同配置
立式同時進行AFM-拉曼-TERS *和不透明樣品的SNOM成像的配置* TERS：增強的拉曼散射，增強的熒光等
針對同時進行AFM-拉曼-TERS *和SNOM成像的InvertedOptimized樣品在透明基質（活細胞，納米顆粒等）上
側面照明選項用于促進不透明樣品的TERS *測量
光纖掃描近場光學顯微鏡（SNOM）基于石英纖維的SNOM技術。
懸臂掃描近場光學顯微鏡（SNOM）基于帶孔懸臂的SNOM技術。
- 原子力顯微鏡（30種模式）
- 共焦拉曼/熒光/瑞利顯微鏡
- 掃描近場光學顯微鏡（SNOM / NSOM）
- 針對增強拉曼光譜和熒光（TERS，TEFS，TERFS）和散射SNOM（s-SNOM）進行了優(yōu)化
所有可能的激發(fā)/檢測和TERS幾何形狀的解決方案
工作原理模式：
模式
- AFM（機械，電氣，磁性，納米操縱等）
- 白光顯微鏡和共聚焦激光（Rayleigh）成像
- 共焦拉曼成像和光譜學
- 共聚焦熒光成像和光譜
- 掃描近場光學顯微鏡（SNOM）
- 增強拉曼和熒光顯微鏡（TERS，TEFS，TERFS）
受控環(huán)境：
- 溫度
- 濕度
- 氣體
- 液體
- 電化學環(huán)境
- 外磁場
規(guī)格書
- 共焦拉曼/熒光顯微鏡
- AFM / STM：與光譜集成
- 軟件
- 光譜學
- 掃描近場光學顯微鏡（SNOM）
- 針對針尖增強拉曼散射（TERS）和其他與針尖相關的光學技術進行了優(yōu)化
- （S-SNOM，SNIM，TEFS，STM-LE等）
共焦拉曼/熒光顯微鏡
- 共聚焦拉曼/熒光/瑞利成像與原子力顯微鏡同時運行（一次樣品掃描）
- 衍射極限空間分辨率：XY 200 nm，Z 500 nm（帶浸沒物鏡）
- 真正的信仰 軟件上的按鈕可控制電動共焦針孔，以獲得信號和共聚焦
- 電動可變擴束器/準直器：針對每個激光器和所使用的每個物鏡分別調整激光束的直徑和準直度
- 具有強大圖像分析功能的全3D（XYZ）共焦成像
- 高光譜成像（在1D，2D或3D共聚焦掃描的每個點記錄完整的拉曼光譜），并進行進一步的軟件分析
- 光學光刻（矢量，光柵）
AFM / STM：與光譜集成
- 垂直和倒置光學AFM配置（分別針對不透明和透明樣本進行了優(yōu)化）；
- 側面照明選項
- 分辨率（數(shù)值孔徑）光學元件與AFM同時使用：立式0.7 NA，倒置1.3-1.4 NA
- 同時獲取AFM / STM和共焦拉曼/熒光圖像（一次掃描）
- 支持所有標準SPM成像模式（30種模式）-與共焦拉曼/熒光結合
- 低噪音AFM / STM（原子分辨率）
- 由于光學AFM頭的特殊設計，可將源自光學顯微鏡主體的振動和熱漂移降至
- 聚焦跟蹤功能：由于AFM Z反饋，樣品始終保持聚焦；可以獲得非常粗糙或傾斜樣品的高質量共聚焦圖像
軟件
- AFM和拉曼的無縫集成；所有AFM / Raman / SNOM實驗以及進一步的數(shù)據(jù)分析均在同一軟件中進行
- 1D，2D和3D高光譜圖像的強大分析
- 強大地導出到其他軟件（Excel，MatLab，Cytospec等）
光譜*
- 520毫米長的高效光譜儀，帶4個電動光柵
- 可見，紫外和紅外光譜范圍
- 埃歇爾光柵具有超高色散；光譜分辨率：0.007 nm（<0.1 1="">
- 最多可以安裝3個不同的探測器
- TE冷卻（低至-100oC）的CCD攝像機。EMCCD攝像機是可選的—用于超快成像
- 光子計數(shù)模式下的光子倍增器（PMT）或雪崩光電二極管
- 用于快速共聚焦激光（Rayleigh）成像的光子倍增器
- 激發(fā)和檢測通道中的柔性電動偏振光學器件，交叉偏振拉曼測量
- 只需單擊幾下鼠標，即可在不同激光器之間實現(xiàn)全自動切換
掃描近場光學顯微鏡（SNOM）*
- 支持兩種主要的SNOM技術：（i）基于石英纖維探針，（ii）基于硅懸臂探針
- 支持的所有模式：傳輸，收集，反射
- 檢測到所有SNOM信號：激光強度，熒光強度，光譜學
- SNOM光刻（矢量，光柵）
針對增強拉曼散射（TERS）和其他與相關的光學技術（S-SNOM，SNIM，TEFS，STM-LE等）進行了優(yōu)化
- 所有現(xiàn)有的TERS幾何形狀均可用：從底部，頂部或側面照明/收集
- 可以使用不同的SPM技術和TERS探針：攻絲和剪切力模式下的STM，AFM懸臂，石英音叉
- 雙重掃描（用于TERS中的熱點映射）：按樣本掃描，按筆尖/激光點掃描
- 電動偏振光學元件可為TERS產生偏振
AFM-拉曼測量可以在空氣，受控氣氛或液體中進行-所有溫度都可變（適用于倒置配置）
- 列出的某些功能是可選的-基本系統(tǒng)配置中未包含
