SF750全數(shù)字超聲波探傷儀

時(shí)尚外觀、防滑設(shè)計(jì)
小巧輕薄、攜帶方便
前面板一體化設(shè)計(jì)-防水、防油、防塵
按鍵采用輕觸無(wú)沖、全點(diǎn)亮設(shè)計(jì)
無(wú)極支撐設(shè)計(jì)，手托可自由拆卸
的方波激勵(lì)信號(hào)處理技術(shù)

采用歐盟鑒定標(biāo)準(zhǔn)EN12668-1-2010；提供中英文歐標(biāo)鑒定報(bào)告各一份

產(chǎn)品概述：
SF750--將三豐科技多年的超聲經(jīng)驗(yàn)和專家級(jí)技術(shù)融合到一臺(tái)便攜式探傷儀中，采用的方波激勵(lì)信號(hào)處理技術(shù)，利用人體工程的優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)單手操作。

性能特點(diǎn)：

全數(shù)字，真彩顯示器，根據(jù)環(huán)境選擇背景色、亮度值可自由設(shè)定，領(lǐng)潮國(guó)內(nèi)應(yīng)用技術(shù)。
高壓方波發(fā)射、穿透力強(qiáng)，滿足大型鑄、鍛件探傷的需求。
寬頻帶高分辨率，檢出率高
脈沖重復(fù)頻率可調(diào)，避免探傷過(guò)程中出現(xiàn)混響信號(hào)
發(fā)射電壓、探頭阻尼、脈沖寬度可調(diào)，適用于不同材料，不同厚度工件的精準(zhǔn)探傷。
SD卡存儲(chǔ)設(shè)計(jì)，全程、連續(xù)、動(dòng)態(tài)、大容量實(shí)時(shí)記錄檢測(cè)回波、數(shù)據(jù)
簡(jiǎn)便實(shí)用的探頭頻譜分析功能，快捷掌握探頭的波形、頻譜和中心頻率，令探傷評(píng)價(jià)更準(zhǔn)確
自動(dòng)增益，配合峰值回波、圖像凍結(jié)功能，快速確定缺陷波，探傷更高效
波峰記憶：實(shí)時(shí)檢索缺陷波，標(biāo)定缺陷值
實(shí)用AVG：實(shí)用AVG曲線、自動(dòng)換算缺陷φ值(3N外)
裂紋測(cè)高：找準(zhǔn)缺陷波，實(shí)時(shí)衍射法測(cè)高
缺陷定位：實(shí)顯水平值L、深度值H、聲程值S
缺陷定量：實(shí)顯SL定量值
缺陷定性：通過(guò)包絡(luò)波形，人工經(jīng)驗(yàn)判斷
曲面修正：曲面工件探傷，修正曲率換算
距離補(bǔ)償：厚工件遠(yuǎn)距離探傷實(shí)時(shí)補(bǔ)償，避免漏檢小缺陷
B型掃描：實(shí)時(shí)掃查，描述缺陷橫切面
RF（射頻）回波功能：對(duì)于薄壁材料測(cè)量或?qū)W術(shù)研究和定性分析有很大幫助
裂紋測(cè)高功能：采用斜探頭的端點(diǎn)反射波法計(jì)算裂紋高度
門內(nèi)展寬：可將閘門內(nèi)回波區(qū)域放大到整個(gè)屏幕顯示，便于觀察到某一回波區(qū)域的細(xì)節(jié)。
VGA接口，無(wú)縫對(duì)接投影儀。
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)無(wú)需主機(jī)與電腦連接后安裝驅(qū)動(dòng)，只需通過(guò)U盤便將儀器內(nèi)數(shù)據(jù)快速導(dǎo)出。
內(nèi)置AWS D1.1/D1.5、API 5UE評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)

技術(shù)參數(shù)：
通道數(shù)： 100組通道
工作頻率： 0.5 ~ 20MHz
總增益量： 120dB(分0.1dB/1dB /2dB /6dB 四檔調(diào)節(jié))
探測(cè)范圍： 0 ~ 13000mm(鋼中縱波)
檢波方式：數(shù)字檢波
衰減器精度：<+1dB/12dB
波形顯示方式：射頻波，檢波 (全波、負(fù)或正半波)
聲速范圍： 0 ~ 15000m/s
水平線性誤差： ≤ 0.1%
垂直線性誤差： ≤ 3%
動(dòng)態(tài)范圍： ≥ 42dB
分辨力： ≥ 40dB（5N14）
靈敏度余量： ≥ 70dB （深200mmφ2平底孔）
數(shù)字抑制： （0 ~ 80）% ，不影響線性與增益
顯示屏： 5.7"高亮彩色TFT顯示屏(640×480)
電源： 直流15V；交流220V
環(huán)境溫度： （-20 ~ 50）℃（參考值）
相對(duì)濕度：（20～95）% RH
工作時(shí)間：連續(xù)工作8小時(shí)以上（鋰電池供電）
外型尺寸： 228×140×45（高×寬×厚）
重量： 1kg(含電池)