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PID操作軟件（PIDStudio）

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公司名稱束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/4/2 17:43:42
訪問次數(shù)134

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束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司自成立以來，憑借與德國布魯克（BRUKER）、國際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國Freiberg等國際實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作，迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。我們擁有一支積極樂觀，正直誠信的年輕團(tuán)隊(duì)，我們熱忱的信仰科學(xué)，相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶帶來高品質(zhì)的生活，為社會(huì)的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。束蘊(yùn)儀器為各類客戶提供優(yōu)質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器及過程控制設(shè)備，專業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù)，在中國大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶，如高校、科研院所、航空航天，政府組織、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、及工業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個(gè)行業(yè)。公司的宗旨：為客戶量身打造的綜合解決方案，的技術(shù)支持和現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)，優(yōu)質(zhì)高效的客戶培訓(xùn)，快速及時(shí)的售后服務(wù)。

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

PIDStudio是一個(gè)很的軟件，它非常容易操作和直觀，因?yàn)樗鶕?jù)我們用戶的反饋持續(xù)更新和改進(jìn)。

PID操作軟件（PIDStudio）產(chǎn)品信息

PIDStudio是一個(gè)很的軟件，它非常容易操作和直觀，因?yàn)樗鶕?jù)我們用戶的反饋持續(xù)更新和改進(jìn)。

通過PIDStudio，可以輸出和比較多個(gè)測(cè)量的下列參數(shù)：

● 并聯(lián)電阻

● 電導(dǎo)率

● 功率損耗

● 泄漏電流

● 溫度

● 濕度

● 高電壓

主要特點(diǎn)：

● 用戶結(jié)構(gòu)

● 輸出功能

● 譜圖

● 通過和失敗標(biāo)準(zhǔn)

● 分析功能包

● 可控制任意數(shù)量的設(shè)備

參考文獻(xiàn)： cells (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163

(2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tr?ndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic

modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).

(3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).

(4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells

as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Gro?er, S. Richter, A. H?hnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. P?blau, S. Gro?er, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

(7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.