光致發(fā)光(photoluminescence)即PL，是用紫外、可見(jiàn)或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光，在半導(dǎo)體材料的發(fā)光特性測(cè)量應(yīng)用中通常是用激光（波長(zhǎng)如325nm、532nm、785nm等）激發(fā)材料（如GaN、ZnO、GaAs等）產(chǎn)生熒光，通過(guò)對(duì)其熒光光譜（即PL譜）的測(cè)量，分析該材料的光學(xué)特性，如禁帶寬度等。光致發(fā)光可以提供有關(guān)材料的結(jié)構(gòu)、成分及環(huán)境原子排列的信息，是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法，因而在物理學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)及分子生物學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用。

傳統(tǒng)的熒光光譜儀一般采用透鏡收光的方式，針對(duì)發(fā)光非常微弱的納米材料，即便用激光器激發(fā)，也很難獲得較好的信號(hào)。結(jié)合多年的實(shí)際測(cè)樣經(jīng)驗(yàn)，良允科儀推出了顯微PL系統(tǒng)，采用顯微物鏡收光，較傳統(tǒng)的熒光光譜儀其收光效率提升了至少3個(gè)數(shù)量級(jí)，因此特別適用于傳統(tǒng)熒光系統(tǒng)難以檢測(cè)到的微弱信號(hào)，另外其輔助的白光成像功能，還可以實(shí)現(xiàn)微區(qū)（微米級(jí)）定位測(cè)量。

應(yīng)用領(lǐng)域：

· 半導(dǎo)體材料

· 納米材料

· 薄膜材料

· 光波導(dǎo)器件

· LD, LED外延片

產(chǎn)品特點(diǎn)：

· 光譜范圍：200-1700nm

· 光斑大?。骸?0μm（325nm激光、100X物鏡）

· 光譜分辨率：優(yōu)于0.1nm

· 白光成像分辨率：亞微米級(jí)

· 激光器：266nm、325nm、360nm、405nm、488nm、510nm、532nm、633nm、785nm等可選

· 樣品臺(tái)：手動(dòng)/電動(dòng)可選

· 采譜模式：?jiǎn)吸c(diǎn)掃描/線(xiàn)掃描可選

系統(tǒng)功能：

· 微區(qū)PL測(cè)量

· 可同時(shí)配置多路激光器

· 自由光路耦合，保障光效率

· 顯微光路設(shè)計(jì)，保障激發(fā)、收集效率

· 高精度位移臺(tái)，實(shí)現(xiàn)微米級(jí)定位測(cè)量

擴(kuò)展功能：

· 微區(qū)電致發(fā)光（EL）測(cè)量

· 熒光壽命測(cè)量：ps-ms量級(jí)

· 自動(dòng)Mapping功能：50mm×50mm行程，步進(jìn)精度1μm

· 光電流譜（成像）測(cè)量

· 光電材料響應(yīng)度測(cè)試

· 變溫附件：77K-600℃/4K、10K超低溫

實(shí)測(cè)案例：

樣品（粉末）：8%Ag2S/SnS2-ND

激發(fā)光源：405nm激光器，積分時(shí)間：0.5s；

AlGaN寬禁帶半導(dǎo)體材料