MultiSEM 505/506掃描電子顯微鏡
蔡司 MultiSEM 研究合作計劃速度非凡的掃描電子顯微鏡.
開啟電子顯微鏡速度的革新時代
借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡（SEM）專為 7 x 24 小時的連續(xù)、可靠運行而設(shè)計。只需簡單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。
使用成熟的 ZEN 成像軟件控制 MultiSEM：您可以直觀靈活地管理這款高性能掃描電子顯微鏡的所有功能選項。
產(chǎn)品特點
以*速度和納米分辨率采集圖像
- 91 條電子束同時工作，擁有出色的成像速度。
- 在3小時內(nèi)對1 cm²的區(qū)域成像，分辨率高達 4 nm。
- 借助經(jīng)優(yōu)化的二次電子探測器，以低信噪比采集高襯度圖像。
大型樣品的采集和成像
- MultiSEM 配備有一個可容納 10 cm x 10 cm 大小樣品的樣品夾。
- 對整個樣品成像并發(fā)現(xiàn)所有細節(jié)，助力于科研。
- 自動采集方案可實現(xiàn)大面積成像 - 您將獲得精細的納米圖像，且不丟失可見信息。
ZEN 成像軟件
- 使用成熟的 ZEN 軟件簡便直觀地操控 MultiSEM，該軟件被應(yīng)用于所有蔡司成像系統(tǒng)。
- 智能化自動調(diào)節(jié)程序能夠幫助您以高分辨率和高襯度捕獲圖像。
- 根據(jù)樣品的實際情況，快速輕松地創(chuàng)建復(fù)雜的自動采集流程。
MultiSEM 同時運用了多條電子束（綠色：照明通路）和多個探測器。微調(diào)探測通路能夠收集大量的二次電子（SE）用于成像。與分光鏡組合使用，可讓二次電子信號到達（紅色：探測通路）多探測器陣列。每條電子束在樣品的一個位置執(zhí)行同步掃描程序，以此獲得單個拼片圖像。電子束呈六邊形排列。通過合并所有圖像拼片生成整幅圖像。
并行計算機設(shè)置程序用于快速記錄數(shù)據(jù)，以提高整體成像速度。圖像采集和工作流程控制在 MultiSEM 顯微鏡中*獨立。
大容量的串行陣列斷層掃描采集
- 使用ATUMtome 自動切割樹脂包埋生物組織。 一天內(nèi)搜集多達1000個連續(xù)切片。
將切片用膠帶固定在硅晶片上并用蔡司的光學顯微鏡成像。使用蔡司的 ZEN 成像軟件以及 Shuttle & Find 功能組件對整體成像。再將硅晶片移至 MultiSEM 電子顯微鏡下，對樣品進行整體預(yù)覽并利用 ZEN 軟件用戶界面規(guī)劃整個實驗。
用圖形化的控制中心設(shè)置整個實驗。高效的自動切片檢測可以識別和標注感興趣區(qū)域，節(jié)省大量時間。
