北京量拓科技有限公司（ELLITOP SCIENTIFIC CO., LTD.）是專業(yè)的橢偏儀器研發(fā)制造企業(yè)，專業(yè)致力于橢偏測量的方法研究、技術(shù)開發(fā)、產(chǎn)品制造和儀器銷售，并提供橢偏測試服務(wù)和橢偏測量整體解決方案。經(jīng)過持續(xù)的創(chuàng)新發(fā)展，目前已成為國際激光橢偏儀和光譜橢偏儀的主要廠商。量拓科技以發(fā)展的橢偏測量技術(shù)，提供納米薄膜檢測整體解決方案為企業(yè)使命，將通過持之以恒的不懈努力，在國際橢偏測量領(lǐng)域樹立源自中國的專業(yè)橢偏品牌ELLiTOP形象，藉此提升中國在國際橢偏測量領(lǐng)域的實力和地位，實現(xiàn)中國高科技企業(yè)貢獻世界的夢想。量拓科技“以量拓產(chǎn)品和服務(wù)協(xié)助客戶創(chuàng)造價值，走向成功”為衡量自身價值的基本出發(fā)點，依托深厚的橢偏測量研發(fā)基礎(chǔ)和專業(yè)的橢偏測量技術(shù)服務(wù)隊伍，為客戶持續(xù)不斷地提供國際的橢偏測量產(chǎn)品和服務(wù)。
成像光譜橢偏儀EIS01 產(chǎn)品信息
EIS01成像光譜橢偏儀是一種對樣品表面和界面進行高靈敏分析的儀器。該儀器是在傳統(tǒng)橢偏測量技術(shù)基礎(chǔ)上，集成了高空間分辨的顯微成像技術(shù)以及高精度的光譜掃描技術(shù)，所以，該儀器具有達到次納米級的縱向靈敏度、達到微米級的橫向分辨率、以及可進行快速橢偏成像的技術(shù)優(yōu)勢。 EIS01成像光譜橢偏儀適用于對納米薄膜樣品進行高精度的膜厚和折射率檢測，尤其適用于對超薄膜、表面、表界面和相關(guān)材料的微觀尺度結(jié)構(gòu)、薄膜厚度、折射率和吸收系數(shù)等參數(shù)進行高空間分辨成像的測量。 EIS01成像光譜橢偏儀可應(yīng)用于半導(dǎo)體集成電路芯片、生物分子芯片、二維材料等領(lǐng)域，服務(wù)于生物醫(yī)藥開發(fā)、醫(yī)療診斷等產(chǎn)業(yè)。
