磁感應(yīng)原理膜厚測量儀

儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。

儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。
儀器符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流法》。

還是采用磁性原理測量較為合適

磁感應(yīng)原理膜厚測量儀X射線衍射裝置
簡單地說螢光X射線裝置（XRF）和X射線衍射裝置（XRD）有何不同,螢光X射線裝置（XRF）能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置（XRD）能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽）時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉（Na）和氯（Cl）構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由（NaCl）的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置（XRD為好,但當(dāng)測定含多種化合物的物質(zhì)時只用衍射裝置（XRD）就很難判定,必須先用螢光X射線裝置（XRF）得到元素信息后才能進行定性。膜厚儀也叫X射線測厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

磁感應(yīng)原理膜厚測量儀功能：

采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
可采用兩種方法對儀器進行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正；
操作過程有蜂鳴聲提示；
電池電壓指示：低電壓提示
自動關(guān)機
測量方法：F 磁感應(yīng) NF 渦流