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膜厚測(cè)量?jī)x廠家應(yīng)用

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公司名稱深圳市鼎極天電子有限公司
品牌
型號(hào)
所在地深圳市
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時(shí)間2024/7/25 19:17:15
訪問(wèn)次數(shù)125

產(chǎn)品標(biāo)簽:

膜厚測(cè)量?jī)x 膜厚測(cè)量?jī)x廠家膜厚測(cè)量?jī)x價(jià)格膜厚測(cè)量?jī)x報(bào)價(jià)

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

深圳市鼎極天電子有限公司是一家從事試驗(yàn)室精密測(cè)試設(shè)備銷售與維護(hù)的專業(yè)公司。公司由一支具有十多年測(cè)厚儀器經(jīng)營(yíng)經(jīng)驗(yàn)的團(tuán)隊(duì)組建，已有十多年的牛津儀器 CMI 測(cè)厚儀器產(chǎn)品代理經(jīng)驗(yàn)，客戶為廣布全國(guó)各地的電路板，半導(dǎo)體，連接器，汽車，五金等制造廠商及高校，科研機(jī)構(gòu)，質(zhì)量檢測(cè)中心等等。公司現(xiàn)為牛津儀器 (OXFORD INSTRUMENTS) 的中國(guó)區(qū)域一級(jí)代理商，擁有專業(yè)銷售及維修工程師，備有充足零配件儲(chǔ)備，專注于 CMI 系列測(cè)厚儀器產(chǎn)品的銷售與維護(hù)。為廣大客戶提供快捷、良好的售前及售后服務(wù)和技術(shù)支持。其他測(cè)試設(shè)備：影象測(cè)量?jī)x（二、三次元）、凝膠時(shí)間測(cè)量?jī)x、樹脂流動(dòng)性測(cè)量系統(tǒng)、板厚測(cè)量?jī)x、銅箔抗剝離強(qiáng)度測(cè)量?jī)x、原子光譜吸收儀（AA機(jī)）等產(chǎn)品的，如有任何需要請(qǐng)按以下資料聯(lián)絡(luò)我公司，我們將為你提供快速優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。

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OXFORD INSTRUMENTS(牛津儀器) CMI系列產(chǎn)品：X-ray式、磁感應(yīng)式、電渦流式和微電阻式無(wú)損鍍層、涂層測(cè)厚儀,影象測(cè)量?jī)x（二、三次元）、凝膠時(shí)間測(cè)量?jī)x、樹脂流動(dòng)性測(cè)量系統(tǒng)、板厚測(cè)量?jī)x、銅箔抗剝離強(qiáng)度測(cè)量?jī)x、原子光譜吸收儀（AA機(jī)）等產(chǎn)品

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

膜厚測(cè)量?jī)x廠家應(yīng)用，又叫膜厚計(jì)、膜厚測(cè)試儀，分為磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。

膜厚測(cè)量?jī)x廠家應(yīng)用產(chǎn)品信息

膜厚測(cè)量?jī)x廠家應(yīng)用簡(jiǎn)介
，又叫膜厚計(jì)、膜厚測(cè)試儀，分為磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。

膜厚測(cè)量?jī)x廠家應(yīng)用磁感應(yīng)測(cè)量原理
采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，磁感應(yīng)膜厚儀
來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)精確測(cè)量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
膜厚測(cè)量?jī)x電渦流測(cè)量原理
高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適
X射線衍射裝置
簡(jiǎn)單地說(shuō)螢光X射線裝置（XRF）和X射線衍射裝置（XRD）有何不同,螢光X射線裝置（XRF）能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置（XRD）能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。具體地說(shuō),比如用不同的裝置測(cè)定食鹽=NaCl）時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉（Na）和氯（Cl）構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由（NaCl）的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置（XRD為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置（XRD）就很難判定,必須先用螢光X射線裝置（XRF）得到元素信息后才能進(jìn)行定性。膜厚儀也叫X射線測(cè)厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。