早期，X熒光鍍層測(cè)厚儀基本被外廠家（德費(fèi)希爾，日本精工，牛津等）壟斷，用戶可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開(kāi)始做光譜儀，是家專業(yè)生產(chǎn)光譜儀的廠家，在X熒光鍍層檢測(cè)方面，打破外的技術(shù)壟斷。天瑞Thick800A內(nèi)置了天瑞研發(fā)的信噪比增強(qiáng)器與數(shù)字多道分析器，在測(cè)試精度可以與進(jìn)口設(shè)備PK過(guò)程中不落下風(fēng)。超低的檢出限使儀器的性能在與進(jìn)口設(shè)備（費(fèi)希爾，精工，牛津等）PK過(guò)程中不落下風(fēng)；儀器使用方便，測(cè)試快捷，可以測(cè)試鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等金屬鍍層厚度。
鍍層厚度測(cè)試方法般有以下幾種方法：
1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005
2、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005
3、庫(kù)侖法，此法般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
天瑞Thick800A具如下特點(diǎn)：
1. 高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm；
2. 采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求；
3. φ0.2mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求；
4. 定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊；
5. 鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)；
6. 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)，微小測(cè)試點(diǎn)更；
7. X射線鍍層測(cè)厚儀廠家優(yōu)勢(shì)在于滿足客戶要求的情況下，價(jià)格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便，維護(hù)成本更低。
測(cè)試實(shí)例
鍍鎳器件是比較常見(jiàn)的電鍍器件，其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測(cè)試客戶的件銅鍍鎳樣品為例說(shuō)明此款儀器的測(cè)試效果。
以下使用Thick800A儀器對(duì)銅鍍鎳樣品實(shí)際測(cè)試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測(cè)試，其測(cè)試位置如圖。
銅鍍鎳件X射線熒光測(cè)試譜圖
銅鍍鎳件測(cè)試值
結(jié)論
實(shí)驗(yàn)表明，使用Thick800A 儀器對(duì)鍍件膜厚測(cè)試，結(jié)果準(zhǔn)確度高，速度快（幾十秒），其測(cè)試效果完可以和顯微鏡測(cè)試法媲美。
廠家介紹
是的鍍層測(cè)厚儀生產(chǎn)企業(yè)， 產(chǎn)品打破了外壟斷局面，性價(jià)比，在行業(yè)內(nèi)銷量*，分析儀器上市公司。公司專業(yè)生產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀，ROHS檢測(cè)儀，氣相色譜質(zhì)譜儀（GCMS）,五金鍍層測(cè)厚儀，x射線測(cè)厚儀，，手持式鍍層測(cè)厚儀，手持式，ROHS檢測(cè)設(shè)備，電鍍層測(cè)厚儀，五金鍍層測(cè)量?jī)x，天瑞ROHS儀，X射線鍍層測(cè)厚儀。天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產(chǎn)、銷售XRF熒光光譜儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀為主的分析儀器及應(yīng)用軟件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和相關(guān)技術(shù)服務(wù)，是內(nèi)上市的分析儀器企業(yè)。
鍍層測(cè)厚儀展廳
