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HARPIA-TF 飛秒熒光上轉(zhuǎn)換和TCSPC光譜儀

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公司名稱北京光量科技有限公司
品牌
型號(hào)HARPIA-TF
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/9/26 9:01:53
訪問次數(shù)119

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北京光量科技有限公司，一直致力于高質(zhì)量科研產(chǎn)品的推廣和售后服務(wù)工作，在飛秒激光器、穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)光譜及成像、飛秒皮秒微納加工等超快領(lǐng)域擁有專業(yè)、全套的解決設(shè)備及方案。公司目前主要代理的科研產(chǎn)品有一體化飛秒激光器、皮秒激光器、納秒激光器、超連續(xù)白光光源、光學(xué)參量放大器（OPA）、科研級(jí)深度制冷CCD、sCMOS、ICCD、EMCCD/EMICCD、深度制冷InGaAs相機(jī)、高性能光柵光譜儀及瞬態(tài)吸收、熒光上轉(zhuǎn)換、TCSPC光譜系統(tǒng)、太赫茲時(shí)域光譜系統(tǒng)、一體化紫外可見近紅外分光光度計(jì)、三級(jí)聯(lián)顯微拉曼光譜系統(tǒng)、便攜式拉曼光譜儀以及相關(guān)光測量設(shè)備和元器件等，產(chǎn)品線還在不斷地更新完善。產(chǎn)品主要覆蓋的應(yīng)用領(lǐng)域有飛秒超快光譜技術(shù)、超分辨光學(xué)成像、飛秒微納加工、燃燒、角分辨光電子能譜、阿秒科學(xué)、高次諧波、太赫茲、二維紅外光譜、拉曼光譜、天文天體物理、多光子活體細(xì)胞成像等。目前公司總部設(shè)立在北京，杭州、長春和深圳分別設(shè)立有辦事處，可以快速響應(yīng)全國的客戶需求和服務(wù)。憑借專業(yè)的銷售隊(duì)伍、強(qiáng)大的技術(shù)支持和優(yōu)質(zhì)的科研儀器，使得光量科技成為全國各大科研院所和高等院校信賴的科研儀器代理單位。

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產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

概述飛秒上轉(zhuǎn)換與TCSPC測量集成到緊湊的機(jī)身內(nèi)操作簡單的日常維護(hù)可作為HARPIA-TA附加組件工作或獨(dú)立單元工作熒光上轉(zhuǎn)換模式和TCSPC模式之間的輕松轉(zhuǎn)換可兼容PHAROS激光系統(tǒng)

HARPIA-TF 飛秒熒光上轉(zhuǎn)換和TCSPC光譜儀產(chǎn)品信息

概述

飛秒上轉(zhuǎn)換與 TCSPC 測量集成到緊湊的機(jī)身內(nèi)
操作簡單的日常維護(hù)
可作為 HARPIA-TA 附加組件工作或獨(dú)立單元工作
熒光上轉(zhuǎn)換模式和 TCSPC 模式之間的輕松轉(zhuǎn)換
可兼容 PHAROS 激光系統(tǒng)，支持 50 – 1000 kHz 工作重頻
選配檢測熒光上轉(zhuǎn)換的模擬 PMT 探測器
光譜掃描和上轉(zhuǎn)換晶體 / 棱鏡的自動(dòng)校正
從飛秒到納秒量級(jí)的熒光動(dòng)力學(xué)測量
控制以下泵浦光參數(shù)：
– 偏振（使用 Becker 偏振補(bǔ)償器）
– 強(qiáng)度（使用手動(dòng)或自動(dòng)的連續(xù)可變中性密度濾光片）
– 門控延遲（使用光延遲線）
使用單色儀實(shí)現(xiàn)光譜分辨熒光檢測
與 HARPIA-TA 系統(tǒng)配合使用時(shí)，一個(gè)單色儀既可用于檢測時(shí)間分辨吸收，又可測量熒光，無需更換探頭。也可以選配其他的單色儀，比如可獲得更高 TCSPC 時(shí)間分辨率的雙重減色單色儀。

HARPIA-TF 是集合了熒光上轉(zhuǎn)換和 TCSPC 技術(shù)的時(shí)間分辨熒光測量模塊。使用熒光上轉(zhuǎn)換模式時(shí)，樣品的信號(hào)被混合在一個(gè)具有門控飛秒脈沖的非線性晶體中，以獲得高的時(shí)間分辨率，該分辨率受門控脈沖的脈寬限制在 250 fs內(nèi)。對于熒光衰減時(shí)間超過 150 ps 的，儀器可采用 TCSPC 模式（時(shí)間相關(guān)的單光子計(jì)數(shù)）模式，測量到5 µs 時(shí)間范圍內(nèi)的運(yùn)動(dòng)軌跡。HARPIA-TF 模塊支持 Becker&Hickl TCSPC 設(shè)備和探測器。

將這兩種時(shí)間分辨熒光技術(shù)結(jié)合起來，可以測量飛秒到 ms 毫秒級(jí)別的的頻率分辨熒光衰減曲線。使用高重頻的 PHAROS / CARBIDE 激光器，使得單脈沖能量可低至幾個(gè) nJ，從而激發(fā)樣品并且對瞬態(tài)吸收的動(dòng)力學(xué)過程進(jìn)行精準(zhǔn)測量。