IP防護等級試具 A, B, C, D試驗探棒
IP1X試驗探棒
產(chǎn)品概述：
符合IEC61032圖1試具A、GB16842試具A、GB4208IP1、IEC60529IP1、IEC60065等標準要求。用于防止手背觸及的防護檢驗。
技術參數(shù)：
1、探球直徑：50mm
2、擋板直徑：45mm
3、擋板厚度：4mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長度：100mm
6、根據(jù)IEC61032圖1(Test probe A) 、GB/T4208-2008表6（**位特征數(shù)字1）
●可訂制帶50±5N推力。
IP2X試驗探棒
產(chǎn)品概述：
符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標準要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。
技術參數(shù)：
1、彎指直徑：12 mm
2、彎指長度：80mm（三節(jié)總長度）
3、擋板直徑：50mm
4、擋板長度：100mm
5、參考標準：GB4706.1-2005第8.1.1條、IEC61032：1997 圖2
●可訂制帶10±1N推力。
IP3X試驗探棒
產(chǎn)品概述：
符合IEC61032圖2試具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842試具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標準要求。用于防止手持工具觸及的防護檢驗。
技術參數(shù)：
1、探棒長度：100mm
2、探棒直徑：2.5mm
3、檔球直徑：35mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長度：100mm
6、根據(jù)IEC61032圖3(Test probe C) 、GB/T4208-2008表6（**位特征數(shù)字3）。
●可訂制帶3±0.3N推力。
IP4X試驗探棒
產(chǎn)品概述：
符合IEC61032圖4試具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842試具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標準要求。用于防止手持金屬絲觸及的防護檢驗。
技術參數(shù)：
1、探棒長度：100mm
2、探棒直徑：1mm
3、檔球直徑：35mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長度：100mm
6、根據(jù)IEC61032圖4(Test probe D) 、GB/T4208-2008表6（**位特征數(shù)字4/5/6）。
● 可訂制帶1±0.1N推力。
