便攜式磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。
磁感應(yīng)測(cè)量原理
采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，磁感應(yīng)膜厚儀
來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來精確測(cè)量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
便攜式磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀批發(fā)價(jià)格優(yōu)勢(shì)：
耐腐蝕性
驗(yàn)證所用涂料的厚度和化學(xué)性，以確保在惡劣環(huán)境中的產(chǎn)品功能和壽命。小的緊固件或大組件都可輕松處理。
耐磨性
防止產(chǎn)品故障，確保在磨料環(huán)境中的關(guān)鍵部件的涂層厚度和均勻性。復(fù)雜的形狀，薄或厚的涂層和成品都可以測(cè)量。
精飾電鍍
當(dāng)目標(biāo)是實(shí)現(xiàn)一個(gè)*的電鍍時(shí)，整個(gè)生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制是至關(guān)重要的。牛津儀器全系列檢測(cè)設(shè)備，讓您放心檢驗(yàn)基材，測(cè)試中間和頂部鍍層。
耐高溫
在的條件下操作的表面處理必須控制在嚴(yán)格的公差范圍內(nèi)。確保鍍層符合規(guī)格，避免產(chǎn)品召回和潛在的災(zāi)難性故障。
便攜式磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀批發(fā)價(jià)格運(yùn)用領(lǐng)域行業(yè)：
電子行業(yè)
電子、電氣原件
有效控制生產(chǎn)過程，提高生產(chǎn)力
確保元件可靠性
同時(shí)測(cè)量焊料合金成份和鍍層厚度
優(yōu)化質(zhì)量控制，確保產(chǎn)品生命期
便攜式磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀批發(fā)價(jià)格儀器參數(shù)
| 型號(hào) | MAXXI 5 | MAXXI 5 PIN | 備注 |
| 測(cè)量元素范圍 | Ti22---U92 |
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| 鍍層和成分分析 | Ø 鍍層：zui多同時(shí)測(cè)定5層（4層鍍層+基體材料） Ø 成分：zui多同時(shí)測(cè)量20種元素 |
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| 測(cè)量方法 | Ø FP（經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)法），無需標(biāo)準(zhǔn)樣片 |
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| X射線激發(fā) | Ø 50Kv、1.2mA(60W)高壓發(fā)生器 Ø 微聚焦W靶X射線管 |
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| 成像系統(tǒng) | Ø 彩色視頻系統(tǒng) Ø 20倍放大倍數(shù) Ø 被測(cè)樣品圖像實(shí)時(shí)顯示功能 Ø 電腦顯示屏具有畫中畫功能 |
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| 計(jì)算機(jī)系統(tǒng) | Ø Inter Pentium G2030，內(nèi)存2G，硬盤500G Ø 17吋液晶彩色顯示器 Ø MicrosoftTM Win7 32bit |
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| 樣品臺(tái)規(guī)格 | Ø X-Y手動(dòng)樣品臺(tái)：600×600mm，zui大承重25Kg，zui大樣品高度175mm或350mm可調(diào) Ø X-Y程控樣品臺(tái)：X-Y臺(tái)面尺寸300×250mm，zui大承重5Kg，zui大樣品高度180mm，程控距離X=300mm、Y=250mm |
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| 儀器外形 | 長(zhǎng)×寬×高700×770×700mm（不含電腦、顯示器） |
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| zui大樣品 | Ø X-Y手動(dòng)樣品臺(tái)：長(zhǎng)×寬×高600×500×350mm Ø X-Y程控樣品臺(tái)：長(zhǎng)×寬×高600×500×180mm |
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| 程控Z軸移動(dòng)距離 | ≤180mm，可使用鼠標(biāo)或手柄控制 |
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| 主機(jī)重量 | 90Kg（不含電腦、顯示器） |
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| 準(zhǔn)直器規(guī)格 | Ø 可選單準(zhǔn)直器、多準(zhǔn)直器 Ø 多準(zhǔn)直器程控交換 Ø 可選園形、矩形準(zhǔn)直器 Ø 單準(zhǔn)直器任選：Ø0.2、Ø0.3、Ø0.5、0.1×0.3mm Ø 多準(zhǔn)直器選項(xiàng)：①Ø0.2、0.06×0.06、0.05×0.15、0.1×0.2mm；②Ø0.1、Ø0.20、0.06×0.06、0.05×0.15mm | Ø 可選單準(zhǔn)直器、多準(zhǔn)直器 Ø 多準(zhǔn)直器程控交換 Ø 可選園形、矩形準(zhǔn)直器 Ø 單準(zhǔn)直器任選：Ø0.3、Ø0.4、Ø0.5、0.2×0.5mm Ø 多準(zhǔn)直器：Ø0.3、Ø0.5、0.1×0.7、0.2×0.7mm |
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| 探測(cè)器 | 正比例計(jì)數(shù)器 | 25mm2半導(dǎo)體（Si-PIN）探測(cè)器，Peltier電制冷 |
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| 軟件模塊可選 | μ-Master用于鍍層測(cè)量 Element--Master用于材料分析 %-Master用于材料分析（珠寶） Report-Master用于微軟報(bào)告文件 Data-Master用于數(shù)據(jù)庫(kù)管理 Liquid-Master用于電鍍液分析 |
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| 產(chǎn)地 | 德國(guó) | ||
功能：
測(cè)量時(shí)，連續(xù)顯示/更新平均、標(biāo)準(zhǔn)偏差、讀數(shù)數(shù)目
內(nèi)存可存儲(chǔ)100組、10,000 個(gè)讀數(shù)
內(nèi)置時(shí)鐘可更新存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，并給每個(gè)數(shù)據(jù)附上測(cè)量時(shí)間。
USB, IR 和系列輸出選項(xiàng)，可用于與打印機(jī)和電腦簡(jiǎn)單連接。
背光顯示，可在黑暗環(huán)境中使用。
密耳和微米之間轉(zhuǎn)換
可選擇多種語(yǔ)言: 英語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、法語(yǔ)、德語(yǔ)、葡萄牙語(yǔ)、中文、日語(yǔ)、挪威語(yǔ)、俄語(yǔ)、捷克斯洛法克語(yǔ)、意大利語(yǔ)
