一、什么是雙絲像質(zhì)計
ISO19232-5/ EN462-5/ASTM E2002 雙絲像質(zhì)計（雙線型像質(zhì)計，雙線型IQI）是由放置于剛性半透明塑料盒中的13個線對組成。雙絲像質(zhì)計絲的直徑與絲與絲之間的距離相等，每個線對包含兩條圓形截面的線。1D至3D線對是金屬鎢，其它線對是金屬鉑。雙絲像質(zhì)計用于確定射線照相和實時射線透照系統(tǒng)的幾何不清晰度Ug，也可用來測定數(shù)字射線系統(tǒng)（CR/DR）的基礎(chǔ)空間分辨力SRb。
雙絲像質(zhì)計的樣式和主要尺寸如圖所示?；窘Y(jié)構(gòu)包括:封裝板、13個絲對、識別標志符號,各部分經(jīng)粘結(jié)構(gòu)成具有一定剛性的整體。金屬絲的材質(zhì)為鉑和鎢。13個絲對放置在上、下板中間。一個絲對本身中的絲應相互平行,各絲對也應相互平行。
各對絲的材質(zhì)、直徑和絲之間的間距等的要求,應符合下表規(guī)定。封裝板包括上、下板,材料一般為硬塑料(或其他適當?shù)牡臀詹牧习?,下板厚度為1 mm左右。
絲的代號     幾何不清晰度U(mm)     絲徑d(mm)
13D            0.10                   0.050
12D            0.13                   0.063
11D            0.16                   0.080
10D            0.20                   0.100
9D             0.26                   0.130
8D             0.32                   0.160
7D             0.40                   0.200
6D             0.50                   0.250
5D             0.64                   0.320
4D             0.80                   0.400
3D             1.00                   0.500
2D             1.26                   0.630
1D             1.60                   0.800

二、為什么使用雙絲像質(zhì)計
經(jīng)驗和理論都證明,僅僅采用線型像質(zhì)計或階梯孔型像質(zhì)計,評價圖像的質(zhì)量是不夠的,因為它們主要給出的是對比度的測量。因此,至少還需單獨測定系統(tǒng)的空間分辨力(圖像的不清晰度)。近年正在發(fā)展的CR/DR技術(shù)(數(shù)字化射線照相技術(shù)),也同樣存在上述問題。
1)    當單絲絲徑與像素尺寸在一個量級且小于像素尺寸時，圖像中的單絲影像有可能被夸大。
2)    當前DR像素尺寸較大（200微米左右），常常需要采取放大透照幾何布置，這就更需要控制幾何不清晰度Ug。
數(shù)字化射線照相技術(shù)（CR/DR）可以調(diào)節(jié)圖像的亮度/黑度，無法沿用密度2.0這一膠片系統(tǒng)的質(zhì)量控制參數(shù)。各標準（ISO、EN、ASTM、GB等）都采用歸一化信噪比SNRn來控制數(shù)字化影像的質(zhì)量。
其中SRb就要由雙絲像質(zhì)計測得。可以說，只要是使用數(shù)字化技術(shù)，就必須用到雙絲像質(zhì)計。
三、怎樣使用雙絲像質(zhì)計
1、測試CR/DR系統(tǒng)的系統(tǒng)基礎(chǔ)空間分辨力SRBdetector， 用于比較、挑選設(shè)備。
將兩個雙絲像質(zhì)計互相垂直，直接置于或者探測器表面。像質(zhì)計走向不可與像素排列方向平行，應成2～5度夾角。
2、測量CR/DR圖像的基礎(chǔ)空間分辨力SRBimage，用于確定透照工藝。
將一個雙絲像質(zhì)計與單絲、鉛字、標記一同置于工件源測。像質(zhì)計走向不可與像素排列方向平行，應成2～5度夾角
沿像質(zhì)計做一與13條線對垂直的直線，取沿線寬度包含不少于21線的像素值線輪廓（line profile），對雙絲之間間隙的像素值波谷達不到雙絲像素值波峰的20%的絲號。如D10、D13。

四、涉及使用雙絲像質(zhì)計的標準

EN 14784
ISO 17636, 16371
ASTM E2445, E2737,
GB/T 21356, 26642