ICT的HP3070 是由美商 Agilnet 公司制造的電路板測試機(jī)臺 , 目前可說是同業(yè)中價(jià)錢*貴, 但也是功能*強(qiáng)大的機(jī)臺 ;因?yàn)楣δ軓?qiáng)大 , 操作上也相對有些復(fù)雜 ; 對新人來說是要更專心學(xué)習(xí)才能擔(dān)負(fù)起測試的工作 .
目前的機(jī)臺有二代及三代的機(jī)臺 , 外觀上大致相同 ; 而且二代機(jī)臺也有進(jìn)行升級 , 所以功能和三代一樣 ; 不同地方
為操作系統(tǒng)的不一樣 , 三代中有些操作系統(tǒng)為WIN 2000
, 其它為UNIX 操作系統(tǒng) ; 但測試操作接口是相同的 , 不會(huì)有太大差異 .

ICT 測試機(jī)器分為三大部份:

▲Testhead :ICT測試機(jī)臺部份
▲Computer :計(jì)算機(jī)部份
▲Support Bay:電源箱部份

測試機(jī)臺架有測試治具 , 由氣壓(air)閥把治具鎖在機(jī)臺上 ; 測試時(shí)由使用真空( Vacuum )抽取治具內(nèi)的空氣 ; 使治具上下板的測試針,扎到板上的測試點(diǎn)上 ; 由機(jī)臺內(nèi)的控制卡在控制測試 .
其測試功能有如使用數(shù)千個(gè)三用電表在測試，但不同處在于使用OP Amp反相放大電路來量測，除open、short testing外并且可測試電路板上單一零件；另外可以由電源箱提供電源, 上電至待測板上 ; 進(jìn)行數(shù)字測試 .
程序的測試順序 :
( 一般測試分為此幾大項(xiàng) , 講解重點(diǎn) : 測試順序, 測試內(nèi)容 )

▲ Pins test: 測試探針接觸待測板是否良好

▲ Shorts test: 測試open及shorts

▲ Unpower analog: 不上電的模擬組件測試,像拿電表量組件一樣

▲ Testjet: 利用電容原理,測試組件或connect開路

▲ Auto inster: 用來測試無法使用Testjet 測試的connect,例如:橫向開口connect

▲ On power: 由power supply供電至待測板

▲ Digital test: 數(shù)字組件或IC組件測試

▲ Analog function: 一些必須上電測試的大電壓模擬