TX3300全反射X射線熒光光譜儀是浪聲科學(xué)經(jīng)過多年XRF技術(shù)沉淀，專門設(shè)計研發(fā)用于痕量元素分析的便攜式光譜儀，利用全反射X射線的原理，以極低的背景噪聲和高靈敏度，可快速針對液體、懸浮液、固體和污染物，進(jìn)行多元素痕量分析，為痕量元素分析領(lǐng)域提供了一種高效率、低成本的解決方案。
TX3300體積小巧，便于攜帶和運輸，非常適合野外分析或移動實驗室的需求。具有高性能、易用性、環(huán)保性和經(jīng)濟(jì)效益等特點，是科研、質(zhì)量控制和環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域分析工具。
· 更高的硬件配置
· 更低的檢出下限
· 更加的小巧便攜
· 更低的運營成本
· 廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域
使用優(yōu)勢
μL/ng級極少量樣品分析
該方法只需極少量的樣品即可進(jìn)行準(zhǔn)確分析，非常適用于樣品量有限的情況。
多元素同時分析
儀器可以同時檢測鉻、鉛等8大主要重金屬元素，也可以根據(jù)檢測需求進(jìn)行元素擴(kuò)展，分析近30個元素，大大節(jié)省了分析時間。
檢出限低至ppb級
儀器突破傳統(tǒng)XRF檢出限，檢出限低至ppb級，揭示微量元素的無限可能。
僅需2min處理時間
僅需2分鐘的處理時間，無需校準(zhǔn)、無需消解，為現(xiàn)場分析提供了極大的便利和效率。
輕便易攜
儀器體積小巧，重量輕，便于攜帶和運輸，使用人員可以輕松地攜帶TXRF儀器到現(xiàn)場進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的元素分析，無需將樣品帶回實驗室，從而大大提高了工作效率。
本土化服務(wù)
國內(nèi)生產(chǎn)廠家能夠提供更快速的售后服務(wù)和技術(shù)支持，確保用戶在使用過程中的問題能夠得到及時解決。
一鍵智能操作
具備用戶友好的操作界面，使得操作簡單、直觀，即便是非專業(yè)人員也能輕松掌握。
低背景噪聲
X光束以掠射角照射樣品，降低了散射和熒光背景，實現(xiàn)了更低的背景噪聲，檢測低限可降低幾個數(shù)量級。
